基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310095139.4

申请日：

2013-03-22

公开(公告)号：

CN103196840B

公开(公告)日：

2013-07-10

发明(设计)人：

符泰然段明皓宗安州

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

IPC主分类号：

G01N2125

IPC分类号：

G01N2135 G01N21359

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

韩国胜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-10	公开	公开
2015-04-15	授权	授权
2013-08-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101503529958 IPC(主分类):G01N 21/25 专利申请号:2013100951394 申请日:20130322

共 50 条

[1]

一种高温材料法向光谱发射率测量系统 [P].

符泰然 ;

谈鹏 ;

曹阳 ;

赵桓 .

中国专利 :CN102042993A ,2011-05-04

[2]

一种材料光谱发射率测量装置 [P].

李宇航 ;

占春连 .

中国专利 :CN223449794U ,2025-10-17

[3]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

张蕾 ;

周金帅 ;

王阳 ;

张丽娟 ;

李想 .

中国专利 :CN121007926A ,2025-11-25

[4]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张丽娟 ;

王阳 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

周金帅 ;

张蕾 ;

李想 .

中国专利 :CN119861105A ,2025-04-22

[5]

材料低温半球发射率的测试系统 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN213544448U ,2021-06-25

[6]

不透明材料高温多区域光谱发射率测量系统 [P].

谭洪 ;

冀晨曦 .

中国专利 :CN109856178A ,2019-06-07

[7]

一种材料高温方向光谱发射率测试装置 [P].

周金帅 ;

王阳 ;

高增华 ;

汤龙生 ;

裴雨辰 ;

赵英民 .

中国专利 :CN109297912A ,2019-02-01

[8]

超高温加热炉、材料超高温法向光谱发射率测试系统及方法 [P].

张虎 ;

谢奇 ;

阮琳 ;

张申博 .

中国专利 :CN120490005A ,2025-08-15

[9]

一种光谱发射率的瞬态测试系统与方法 [P].

符泰然 ;

段明皓 ;

唐佳琦 .

中国专利 :CN104076060A ,2014-10-01

[10]

一种光谱发射率的稳态测试系统与方法 [P].

符泰然 ;

段明皓 ;

唐佳琦 .

中国专利 :CN104048945A ,2014-09-17

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