基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410646456.9

申请日：

2024-05-23

公开(公告)号：

CN121007926A

公开(公告)日：

2025-11-25

发明(设计)人：

吴宪张悦原涛彭广瑞张蕾周金帅王阳张丽娟李想

申请人：

航天特种材料及工艺技术研究所

申请人地址：

100074 北京市丰台区云岗北里40号1-8

IPC主分类号：

G01N25/20

IPC分类号：

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386

代理人：

姚东华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-25	公开	公开
2025-12-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/20申请日:20240523

共 50 条

[1]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张丽娟 ;

王阳 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

周金帅 ;

张蕾 ;

李想 .

中国专利 :CN119861105A ,2025-04-22

[2]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试方法及测试系统 [P].

吴宪 ;

王阳 ;

原涛 ;

张悦 ;

张蕾 ;

彭广瑞 ;

周金帅 ;

李想 ;

张丽娟 .

中国专利 :CN119861107A ,2025-04-22

[3]

基于辐射热测量的发射率测试方法 [P].

吴宪 ;

周金帅 ;

李想 ;

王阳 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

张蕾 ;

张丽娟 .

中国专利 :CN119861104A ,2025-04-22

[4]

自动换样装置与发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

张蕾 ;

周金帅 ;

王阳 ;

张丽娟 ;

李想 .

中国专利 :CN119861106A ,2025-04-22

[5]

材料低温半球发射率的测试系统 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN213544448U ,2021-06-25

[6]

基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统 [P].

符泰然 ;

段明皓 ;

宗安州 .

中国专利 :CN103196840B ,2013-07-10

[7]

材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN114486981A ,2022-05-13

[8]

材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN114486981B ,2024-10-25

[9]

低温热辐射系统 [P].

单宏刚 ;

王金进 .

中国专利 :CN104743305A ,2015-07-01

[10]

低温热辐射系统 [P].

单宏刚 ;

王金进 .

中国专利 :CN204606770U ,2015-09-02

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