学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

基于热辐射效应的低温方向发射率测试方法及测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311366753.X
申请日：
2023-10-20
公开(公告)号：
CN119861107A
公开(公告)日：
2025-04-22
发明(设计)人：
吴宪 王阳 原涛 张悦 张蕾 彭广瑞 周金帅 李想 张丽娟
申请人：
航天特种材料及工艺技术研究所
申请人地址：
100074 北京市丰台区云岗北里40号1-8
IPC主分类号：
G01N25/20
IPC分类号：
代理机构：
北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386
代理人：
姚东华
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-22 公开 公开
2025-05-09 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/20申请日:20231020
共 50 条
[1]
基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P]. 
吴宪 ;
张丽娟 ;
王阳 ;
张悦 ;
原涛 ;
彭广瑞 ;
周金帅 ;
张蕾 ;
李想 .
中国专利 :CN119861105A ,2025-04-22
[2]
基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P]. 
吴宪 ;
张悦 ;
原涛 ;
彭广瑞 ;
张蕾 ;
周金帅 ;
王阳 ;
张丽娟 ;
李想 .
中国专利 :CN121007926A ,2025-11-25
[3]
基于辐射热测量的发射率测试方法 [P]. 
吴宪 ;
周金帅 ;
李想 ;
王阳 ;
张悦 ;
原涛 ;
彭广瑞 ;
张蕾 ;
张丽娟 .
中国专利 :CN119861104A ,2025-04-22
[4]
材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN114486981A ,2022-05-13
[5]
材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN114486981B ,2024-10-25
[6]
材料低温半球发射率的测试系统 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN213544448U ,2021-06-25
[7]
自动换样装置与发射率测试系统 [P]. 
吴宪 ;
张悦 ;
原涛 ;
彭广瑞 ;
张蕾 ;
周金帅 ;
王阳 ;
张丽娟 ;
李想 .
中国专利 :CN119861106A ,2025-04-22
[8]
基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统 [P]. 
符泰然 ;
段明皓 ;
宗安州 .
中国专利 :CN103196840B ,2013-07-10
[9]
星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法 [P]. 
董克松 ;
何嘉恺 ;
徐红新 ;
姜丽菲 ;
刘记辰 .
中国专利 :CN114636867B ,2025-07-22
[10]
星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法 [P]. 
董克松 ;
何嘉恺 ;
徐红新 ;
姜丽菲 ;
刘记辰 .
中国专利 :CN114636867A ,2022-06-17
12345