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一种光学检测设备

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122070893.5
申请日：
2021-08-31
公开(公告)号：
CN216137699U
公开(公告)日：
2022-03-29
发明(设计)人：
贺杰 周吉勇
申请人：
申请人地址：
214000 江苏省无锡市新吴区鸿山街道鸿昌路83号
IPC主分类号：
B07C502
IPC分类号：
B07C534 B07C536
代理机构：
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227
代理人：
顾朝瑞
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-03-29 授权 授权
共 50 条
[1]
一种半导体光学检测设备 [P]. 
吴卫红 .
中国专利 :CN218121739U ,2022-12-23
[2]
一种光学检测设备 [P]. 
尹俊 ;
汪高明 .
中国专利 :CN221174410U ,2024-06-18
[3]
一种光学检测设备 [P]. 
黄盛谋 ;
林小如 ;
刘剑芬 ;
邓有荣 .
中国专利 :CN218370275U ,2023-01-24
[4]
一种光学检测设备 [P]. 
邹建文 ;
孙鹏 ;
梁加强 ;
杜荣钦 ;
马国东 ;
尹建刚 ;
高云峰 .
中国专利 :CN206959889U ,2018-02-02
[5]
一种光学检测设备 [P]. 
王晓亮 ;
彭先德 .
中国专利 :CN223500871U ,2025-10-31
[6]
一种光学检测设备 [P]. 
张方德 ;
邵和兴 .
中国专利 :CN205067372U ,2016-03-02
[7]
一种光学检测设备 [P]. 
张志军 .
中国专利 :CN205808960U ,2016-12-14
[8]
一种光学检测设备 [P]. 
金燕 .
中国专利 :CN208043684U ,2018-11-02
[9]
一种光学检测设备 [P]. 
柴新玉 ;
肖治祥 ;
朱涛 .
中国专利 :CN216247731U ,2022-04-08
[10]
一种光学检测设备 [P]. 
李雷 ;
陈博 .
中国专利 :CN205785762U ,2016-12-07
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