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一种芯片检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011007131.4
申请日
:
2020-09-23
公开(公告)号
:
CN112114247A
公开(公告)日
:
2020-12-22
发明(设计)人
:
黄稳岩
黄志军
申请人
:
申请人地址
:
226600 江苏省南通市海安市城东镇立发大道169号3幢
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京天盾知识产权代理有限公司 11421
代理人
:
史炜炜
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-01-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200923
2020-12-22
公开
公开
共 50 条
[1]
一种芯片检测装置
[P].
黄稳岩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏洛柳精密科技有限公司
江苏洛柳精密科技有限公司
黄稳岩
;
黄志军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏洛柳精密科技有限公司
江苏洛柳精密科技有限公司
黄志军
.
中国专利
:CN112114247B
,2024-03-29
[2]
一种芯片时序检测装置
[P].
王飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
王飞
.
中国专利
:CN214472770U
,2021-10-22
[3]
一种芯片检测装置用进料装置
[P].
毕立东
论文数:
0
引用数:
0
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0
毕立东
.
中国专利
:CN213833563U
,2021-07-30
[4]
一种纸质芯片用检测装置
[P].
不公告发明人
论文数:
0
引用数:
0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN214150754U
,2021-09-07
[5]
一种芯片表面缺陷检测装置
[P].
韦虎
论文数:
0
引用数:
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0
韦虎
;
倪化生
论文数:
0
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0
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0
倪化生
;
黄炫
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄炫
.
中国专利
:CN218098917U
,2022-12-20
[6]
一种通信芯片性能检测装置
[P].
刘耀坤
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘耀坤
.
中国专利
:CN213302441U
,2021-05-28
[7]
一种芯片异常检测装置及检测方法
[P].
尚跃
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
尚跃
;
陶灿
论文数:
0
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0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶灿
;
陶子木
论文数:
0
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0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶子木
.
中国专利
:CN118136539A
,2024-06-04
[8]
一种芯片异常检测装置及检测方法
[P].
尚跃
论文数:
0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
尚跃
;
陶灿
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶灿
;
陶子木
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶子木
.
中国专利
:CN118136539B
,2024-07-12
[9]
一种芯片检测装置
[P].
宋成龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
宋成龙
.
中国专利
:CN218271931U
,2023-01-10
[10]
一种芯片检测装置
[P].
郑澎
论文数:
0
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0
郑澎
;
罗旺宝
论文数:
0
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罗旺宝
;
郑曙涛
论文数:
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郑曙涛
;
莫树任
论文数:
0
引用数:
0
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0
莫树任
.
中国专利
:CN212275892U
,2021-01-01
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