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一种芯片异常检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410532561.X
申请日
:
2024-04-30
公开(公告)号
:
CN118136539B
公开(公告)日
:
2024-07-12
发明(设计)人
:
尚跃
陶灿
陶子木
申请人
:
合肥聚跃检测技术有限公司
申请人地址
:
230000 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期G2楼A座1层
IPC主分类号
:
H01L21/66
IPC分类号
:
H01L21/67
H01L21/677
代理机构
:
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160
代理人
:
王玉
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-12
授权
授权
2024-06-04
公开
公开
2024-06-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20240430
共 50 条
[1]
一种芯片异常检测装置及检测方法
[P].
尚跃
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
尚跃
;
陶灿
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机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶灿
;
陶子木
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0
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0
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0
机构:
合肥聚跃检测技术有限公司
合肥聚跃检测技术有限公司
陶子木
.
中国专利
:CN118136539A
,2024-06-04
[2]
芯片吸取异常检测装置及检测方法
[P].
颜萍
论文数:
0
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0
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机构:
江苏快克芯装备科技有限公司
江苏快克芯装备科技有限公司
颜萍
;
戚国强
论文数:
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0
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机构:
江苏快克芯装备科技有限公司
江苏快克芯装备科技有限公司
戚国强
;
沈立成
论文数:
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机构:
江苏快克芯装备科技有限公司
江苏快克芯装备科技有限公司
沈立成
.
中国专利
:CN117080127B
,2024-01-05
[3]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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0
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN118245311A
,2024-06-25
[4]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN118245311B
,2024-08-20
[5]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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0
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0
机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN117632606A
,2024-03-01
[6]
一种检测装置及检测方法
[P].
苑庆泽
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苑庆泽
;
马志敏
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马志敏
;
边柯梦
论文数:
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边柯梦
;
陈彬彬
论文数:
0
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陈彬彬
;
罗永俊
论文数:
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罗永俊
;
何杨洁
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何杨洁
;
夏令君
论文数:
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0
夏令君
.
中国专利
:CN106560719A
,2017-04-12
[7]
一种芯片检测装置及检测方法
[P].
罗建华
论文数:
0
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
罗建华
;
罗炜桓
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
罗炜桓
;
刘佳华
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
刘佳华
;
邹辉庭
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0
机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
邹辉庭
;
李刁龙
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
李刁龙
;
龙志斌
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
龙志斌
.
中国专利
:CN118904738B
,2024-12-27
[8]
一种芯片检测装置及检测方法
[P].
罗建华
论文数:
0
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
罗建华
;
罗炜桓
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
罗炜桓
;
刘佳华
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
刘佳华
;
邹辉庭
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
邹辉庭
;
李刁龙
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机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
李刁龙
;
龙志斌
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0
机构:
深圳市华拓半导体技术有限公司
深圳市华拓半导体技术有限公司
龙志斌
.
中国专利
:CN118904738A
,2024-11-08
[9]
芯片异常检测电路及芯片异常检测装置
[P].
黄笑宇
论文数:
0
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黄笑宇
.
中国专利
:CN109143018A
,2019-01-04
[10]
一种检测芯片、检测装置及浓度检测方法
[P].
孟凡理
论文数:
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机构:
北京京东方技术开发有限公司
北京京东方技术开发有限公司
孟凡理
;
陈江博
论文数:
0
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0
机构:
北京京东方技术开发有限公司
北京京东方技术开发有限公司
陈江博
.
中国专利
:CN118730986A
,2024-10-01
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