一种芯片异常检测装置及检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410532561.X
申请日
2024-04-30
公开(公告)号
CN118136539B
公开(公告)日
2024-07-12
发明(设计)人
尚跃 陶灿 陶子木
申请人
合肥聚跃检测技术有限公司
申请人地址
230000 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期G2楼A座1层
IPC主分类号
H01L21/66
IPC分类号
H01L21/67 H01L21/677
代理机构
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160
代理人
王玉
法律状态
授权
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
一种芯片异常检测装置及检测方法 [P]. 
尚跃 ;
陶灿 ;
陶子木 .
中国专利 :CN118136539A ,2024-06-04
[2]
芯片吸取异常检测装置及检测方法 [P]. 
颜萍 ;
戚国强 ;
沈立成 .
中国专利 :CN117080127B ,2024-01-05
[3]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25
[4]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20
[5]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01
[6]
一种检测装置及检测方法 [P]. 
苑庆泽 ;
马志敏 ;
边柯梦 ;
陈彬彬 ;
罗永俊 ;
何杨洁 ;
夏令君 .
中国专利 :CN106560719A ,2017-04-12
[7]
一种芯片检测装置及检测方法 [P]. 
罗建华 ;
罗炜桓 ;
刘佳华 ;
邹辉庭 ;
李刁龙 ;
龙志斌 .
中国专利 :CN118904738B ,2024-12-27
[8]
一种芯片检测装置及检测方法 [P]. 
罗建华 ;
罗炜桓 ;
刘佳华 ;
邹辉庭 ;
李刁龙 ;
龙志斌 .
中国专利 :CN118904738A ,2024-11-08
[9]
芯片异常检测电路及芯片异常检测装置 [P]. 
黄笑宇 .
中国专利 :CN109143018A ,2019-01-04
[10]
一种检测芯片、检测装置及浓度检测方法 [P]. 
孟凡理 ;
陈江博 .
中国专利 :CN118730986A ,2024-10-01