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一种薄膜测厚仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202022741909.6
申请日：
2020-11-24
公开(公告)号：
CN213657779U
公开(公告)日：
2021-07-09
发明(设计)人：
卫仁忠
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市花桥镇星光工业园19号A厂房
IPC主分类号：
G01B1106
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-07-09 | 授权 | 授权 |