一种薄膜测厚仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510964449.4
申请日
2015-12-18
公开(公告)号
CN106895812A
公开(公告)日
2017-06-27
发明(设计)人
李让峰
申请人
申请人地址
300350 天津市津南区滨海民营经济成长示范基地创意中心A座12B-117号
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104
代理人
李桂英
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
李让峰 .
中国专利 :CN205373683U ,2016-07-06
[2]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
林长蕉 .
中国专利 :CN207907845U ,2018-09-25
[3]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
王中伟 ;
赵海奇 .
中国专利 :CN210513085U ,2020-05-12
[4]
薄膜测厚仪 [P]. 
杨世京 ;
高存锁 .
中国专利 :CN204373632U ,2015-06-03
[5]
一种方便使用的薄膜测厚仪 [P]. 
陆培康 .
中国专利 :CN205561801U ,2016-09-07
[6]
一种光学薄膜测厚仪 [P]. 
兰慧琴 ;
雷芳芳 ;
曾思通 .
中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28
[7]
一种薄膜自动测厚仪器 [P]. 
彭锐能 ;
柳传深 ;
任万营 .
中国专利 :CN222895712U ,2025-05-23
[8]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
肖锋 ;
朱键武 ;
余安展 .
中国专利 :CN214039932U ,2021-08-24
[9]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN223636809U ,2025-12-05
[10]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
卫仁忠 .
中国专利 :CN213657779U ,2021-07-09