一种薄膜自动测厚仪器

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421858320.6
申请日
2024-08-01
公开(公告)号
CN222895712U
公开(公告)日
2025-05-23
发明(设计)人
彭锐能 柳传深 任万营
申请人
广州德准机电设备有限公司
申请人地址
511453 广东省广州市南沙区东涌镇市鱼路239号13号铺
IPC主分类号
G01B21/08
IPC分类号
H05F3/04
代理机构
广州市科丰知识产权代理事务所(普通合伙) 44467
代理人
许立
法律状态
授权
国省代码
广东省 广州市
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共 50 条
[1]
一种自动测量薄膜测厚仪 [P]. 
彭锐能 ;
柳传深 ;
任万营 .
中国专利 :CN222812373U ,2025-04-29
[2]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
林长蕉 .
中国专利 :CN207907845U ,2018-09-25
[3]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
王中伟 ;
赵海奇 .
中国专利 :CN210513085U ,2020-05-12
[4]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
李让峰 .
中国专利 :CN205373683U ,2016-07-06
[5]
薄膜测厚仪 [P]. 
杨世京 ;
高存锁 .
中国专利 :CN204373632U ,2015-06-03
[6]
一种光学薄膜测厚仪 [P]. 
兰慧琴 ;
雷芳芳 ;
曾思通 .
中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28
[7]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
肖锋 ;
朱键武 ;
余安展 .
中国专利 :CN214039932U ,2021-08-24
[8]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN223636809U ,2025-12-05
[9]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
李让峰 .
中国专利 :CN106895812A ,2017-06-27
[10]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
黄新禄 ;
杨火清 ;
魏宇航 .
中国专利 :CN209745258U ,2019-12-06