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一种薄膜自动测厚仪器
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202421858320.6
申请日
:
2024-08-01
公开(公告)号
:
CN222895712U
公开(公告)日
:
2025-05-23
发明(设计)人
:
彭锐能
柳传深
任万营
申请人
:
广州德准机电设备有限公司
申请人地址
:
511453 广东省广州市南沙区东涌镇市鱼路239号13号铺
IPC主分类号
:
G01B21/08
IPC分类号
:
H05F3/04
代理机构
:
广州市科丰知识产权代理事务所(普通合伙) 44467
代理人
:
许立
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 广州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-05-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种自动测量薄膜测厚仪
[P].
彭锐能
论文数:
0
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0
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0
机构:
广州德准机电设备有限公司
广州德准机电设备有限公司
彭锐能
;
柳传深
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机构:
广州德准机电设备有限公司
广州德准机电设备有限公司
柳传深
;
任万营
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机构:
广州德准机电设备有限公司
广州德准机电设备有限公司
任万营
.
中国专利
:CN222812373U
,2025-04-29
[2]
一种薄膜测厚仪
[P].
林长蕉
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0
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0
林长蕉
.
中国专利
:CN207907845U
,2018-09-25
[3]
一种薄膜测厚仪
[P].
王中伟
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王中伟
;
赵海奇
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赵海奇
.
中国专利
:CN210513085U
,2020-05-12
[4]
一种薄膜测厚仪
[P].
李让峰
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李让峰
.
中国专利
:CN205373683U
,2016-07-06
[5]
薄膜测厚仪
[P].
杨世京
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杨世京
;
高存锁
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高存锁
.
中国专利
:CN204373632U
,2015-06-03
[6]
一种光学薄膜测厚仪
[P].
兰慧琴
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兰慧琴
;
雷芳芳
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雷芳芳
;
曾思通
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曾思通
.
中国专利
:CN211373516U
,2020-08-28
[7]
一种薄膜测厚仪
[P].
肖锋
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肖锋
;
朱键武
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朱键武
;
余安展
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余安展
.
中国专利
:CN214039932U
,2021-08-24
[8]
一种薄膜测厚仪
[P].
何伟
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机构:
德昉(惠州)新材料科技有限公司
德昉(惠州)新材料科技有限公司
何伟
.
中国专利
:CN223636809U
,2025-12-05
[9]
一种薄膜测厚仪
[P].
李让峰
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李让峰
.
中国专利
:CN106895812A
,2017-06-27
[10]
一种薄膜测厚仪
[P].
黄新禄
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黄新禄
;
杨火清
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杨火清
;
魏宇航
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魏宇航
.
中国专利
:CN209745258U
,2019-12-06
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