一种自动测量薄膜测厚仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421858326.3

申请日：

2024-08-01

公开(公告)号：

CN222812373U

公开(公告)日：

2025-04-29

发明(设计)人：

彭锐能柳传深任万营

申请人：

广州德准机电设备有限公司

申请人地址：

511453 广东省广州市南沙区东涌镇市鱼路239号13号铺

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

代理机构：

广州市科丰知识产权代理事务所(普通合伙) 44467

代理人：

许立

法律状态：

授权

国省代码：

广东省广州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种薄膜自动测厚仪器 [P].

彭锐能 ;

柳传深 ;

任万营 .

中国专利 :CN222895712U ,2025-05-23

[2]

一种薄膜测厚仪 [P].

王中伟 ;

赵海奇 .

中国专利 :CN210513085U ,2020-05-12

[3]

一种薄膜测厚仪 [P].

张春华 ;

秦志红 .

中国专利 :CN208536810U ,2019-02-22

[4]

一种薄膜测厚仪 [P].

李让峰 .

中国专利 :CN205373683U ,2016-07-06

[5]

一种薄膜测厚仪 [P].

林长蕉 .

中国专利 :CN207907845U ,2018-09-25

[6]

薄膜测厚仪 [P].

杨世京 ;

高存锁 .

中国专利 :CN204373632U ,2015-06-03

[7]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

兰慧琴 ;

雷芳芳 ;

曾思通 .

中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28

[8]

一种薄膜生产用测厚仪 [P].

黄武重 .

中国专利 :CN218179915U ,2022-12-30

[9]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

潘永刚 ;

董所涛 ;

王奔 ;

林兆文 ;

付秀华 ;

林芝庆 .

中国专利 :CN222881978U ,2025-05-16

[10]

一种薄膜测厚仪 [P].

肖锋 ;

朱键武 ;

余安展 .

中国专利 :CN214039932U ,2021-08-24

← 1 2 3 4 5 →