一种光学薄膜测厚仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421941924.7

申请日：

2024-08-12

公开(公告)号：

CN222881978U

公开(公告)日：

2025-05-16

发明(设计)人：

潘永刚董所涛王奔林兆文付秀华林芝庆

申请人：

长春理工大学中山研究院中山吉联光电科技有限公司

申请人地址：

528437 广东省中山市火炬开发区会展东路16号数码大厦15-17层

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

B25B11/00

代理机构：

北京达友众邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11904

代理人：

吴东奇

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

兰慧琴 ;

雷芳芳 ;

曾思通 .

中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28

[2]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN207095536U ,2018-03-13

[3]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

孙冶 .

中国专利 :CN217877565U ,2022-11-22

[4]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

吴昊 ;

张文斌 ;

江洁 ;

郭德伟 ;

王鸿钧 .

中国专利 :CN211317217U ,2020-08-21

[5]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN107192362A ,2017-09-22

[6]

光学薄膜测厚仪 [P].

张姝 ;

孙双猛 ;

牛旭文 .

中国专利 :CN201247048Y ,2009-05-27

[7]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

宗寒 ;

胡鉴涛 ;

沈抗勇 .

中国专利 :CN107356217A ,2017-11-17

[8]

一种多点测量式光学薄膜测厚仪 [P].

魏有海 .

中国专利 :CN118776504A ,2024-10-15

[9]

一种多点测量式光学薄膜测厚仪 [P].

魏有海 .

中国专利 :CN118776504B ,2025-02-14

[10]

光学薄膜 [P].

罗羽柱 .

中国专利 :CN208969383U ,2019-06-11

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