一种多点测量式光学薄膜测厚仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411079325.3

申请日：

2024-08-07

公开(公告)号：

CN118776504B

公开(公告)日：

2025-02-14

发明(设计)人：

魏有海

申请人：

苏州欣恒高科光电科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市昆山市千灯镇石浦声荣路280号6B

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

代理机构：

苏州根号专利代理事务所(普通合伙) 32276

代理人：

项丽

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-14	授权	授权
2024-11-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/08申请日:20240807
2024-10-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种多点测量式光学薄膜测厚仪 [P].

魏有海 .

中国专利 :CN118776504A ,2024-10-15

[2]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

吴昊 ;

张文斌 ;

江洁 ;

郭德伟 ;

王鸿钧 .

中国专利 :CN211317217U ,2020-08-21

[3]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN207095536U ,2018-03-13

[4]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN107192362A ,2017-09-22

[5]

光学薄膜测厚仪 [P].

张姝 ;

孙双猛 ;

牛旭文 .

中国专利 :CN201247048Y ,2009-05-27

[6]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

宗寒 ;

胡鉴涛 ;

沈抗勇 .

中国专利 :CN107356217A ,2017-11-17

[7]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

孙冶 .

中国专利 :CN217877565U ,2022-11-22

[8]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

潘永刚 ;

董所涛 ;

王奔 ;

林兆文 ;

付秀华 ;

林芝庆 .

中国专利 :CN222881978U ,2025-05-16

[9]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

兰慧琴 ;

雷芳芳 ;

曾思通 .

中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28

[10]

一种多点测量式光学薄膜测厚装置 [P].

曹晓光 ;

李峰 ;

孔维翔 ;

邵秋新 ;

章军尧 .

中国专利 :CN120890358A ,2025-11-04

← 1 2 3 4 5 →