一种光学薄膜测厚仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020252153.6

申请日：

2020-03-04

公开(公告)号：

CN211373516U

公开(公告)日：

2020-08-28

发明(设计)人：

兰慧琴雷芳芳曾思通

申请人：

申请人地址：

350007 福建省福州市仓山区首山路112号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

福州旭辰知识产权代理事务所(普通合伙) 35233

代理人：

程春宝

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-28	授权	授权
2022-02-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20200304 授权公告日:20200828 终止日期:20210304

共 50 条

[1]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

孙冶 .

中国专利 :CN217877565U ,2022-11-22

[2]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

潘永刚 ;

董所涛 ;

王奔 ;

林兆文 ;

付秀华 ;

林芝庆 .

中国专利 :CN222881978U ,2025-05-16

[3]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN207095536U ,2018-03-13

[4]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

吴昊 ;

张文斌 ;

江洁 ;

郭德伟 ;

王鸿钧 .

中国专利 :CN211317217U ,2020-08-21

[5]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

顾运辉 ;

顾明东 ;

姚其林 ;

邵玉玲 .

中国专利 :CN107192362A ,2017-09-22

[6]

光学薄膜测厚仪 [P].

张姝 ;

孙双猛 ;

牛旭文 .

中国专利 :CN201247048Y ,2009-05-27

[7]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

宗寒 ;

胡鉴涛 ;

沈抗勇 .

中国专利 :CN107356217A ,2017-11-17

[8]

一种多点测量式光学薄膜测厚仪 [P].

魏有海 .

中国专利 :CN118776504A ,2024-10-15

[9]

一种多点测量式光学薄膜测厚仪 [P].

魏有海 .

中国专利 :CN118776504B ,2025-02-14

[10]

光学薄膜 [P].

罗羽柱 .

中国专利 :CN208969383U ,2019-06-11

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