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一种光学薄膜测厚仪
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201710605090.0
申请日：
2017-07-24
公开(公告)号：
CN107356217A
公开(公告)日：
2017-11-17
发明(设计)人：
宗寒
胡鉴涛
沈抗勇
申请人：
申请人地址：
247099 安徽省池州市贵池区经济技术开发区电子信息产业园综合楼204室
IPC主分类号：
G01B2108
IPC分类号：
代理机构：
北京华智则铭知识产权代理有限公司 11573
代理人：
陈向敏
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-11-17 | 公开 | 公开 |
| 2020-10-30 | 发明专利申请公布后的驳回 | 发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 21/08 申请公布日:20171117 |
| 2017-12-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/08 申请日:20170724 |