薄膜测厚仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520051450.3

申请日：

2015-01-24

公开(公告)号：

CN204373632U

公开(公告)日：

2015-06-03

发明(设计)人：

杨世京高存锁

申请人：

申请人地址：

311188 浙江省杭州市钱江经济开发区康泰路185号1幢

IPC主分类号：

G01B2108

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-03	授权	授权
2018-02-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/08 申请日:20150124 授权公告日:20150603 终止日期:20170124

共 50 条

[1]

薄膜测厚仪 [P].

韩雪山 ;

袁文广 ;

李志恒 ;

崔洁 .

中国专利 :CN201945276U ,2011-08-24

[2]

一种薄膜测厚仪 [P].

王中伟 ;

赵海奇 .

中国专利 :CN210513085U ,2020-05-12

[3]

一种薄膜测厚仪 [P].

李让峰 .

中国专利 :CN205373683U ,2016-07-06

[4]

一种薄膜测厚仪 [P].

林长蕉 .

中国专利 :CN207907845U ,2018-09-25

[5]

一种薄膜测厚仪及其提升机构 [P].

贺兴潭 .

中国专利 :CN217818664U ,2022-11-15

[6]

薄膜测厚仪 [P].

马振怀 ;

王亚彬 ;

王乐 ;

玄成龙 ;

孙挺宇 ;

李成杰 .

中国专利 :CN309055876S ,2025-01-07

[7]

用于薄膜测厚仪的支撑底座 [P].

周萍萍 ;

王继学 ;

薄娴 ;

胡绍鹏 .

中国专利 :CN212806970U ,2021-03-26

[8]

一种光学薄膜测厚仪 [P].

兰慧琴 ;

雷芳芳 ;

曾思通 .

中国专利 :CN211373516U ,2020-08-28

[9]

一种薄膜自动测厚仪器 [P].

彭锐能 ;

柳传深 ;

任万营 .

中国专利 :CN222895712U ,2025-05-23

[10]

一种自动测量薄膜测厚仪 [P].

彭锐能 ;

柳传深 ;

任万营 .

中国专利 :CN222812373U ,2025-04-29

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