一种纳米级波带片成像分辨率测试的方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010499019.0

申请日：

2020-06-04

公开(公告)号：

CN111721784A

公开(公告)日：

2020-09-29

发明(设计)人：

王山峰袁清习张凯黄万霞

申请人：

申请人地址：

100049 北京市海淀区玉泉路19号乙

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

G01N2320

代理机构：

北京君尚知识产权代理有限公司 11200

代理人：

司立彬

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-04	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 23/04 变更事项:申请人变更前:中国科学院高能物理研究所变更后:中国科学院高能物理研究所变更事项:地址变更前:100049 北京市海淀区玉泉路19号乙变更后:100049 北京市石景山区玉泉路19号乙
2021-11-19	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 23/04 申请公布日:20200929
2020-10-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20200604
2020-09-29	公开	公开

共 50 条

[1]

一种具有纳米级分辨率的超快成像系统 [P].

朱涛 ;

黄景晟 ;

王金栋 .

中国专利 :CN114812427A ,2022-07-29

[2]

超分辨率成像的装置及方法 [P].

周峰 ;

李光伟 ;

王东生 ;

张海涛 ;

刘永坚 ;

闫海 ;

赵达尊 .

中国专利 :CN101217625A ,2008-07-09

[3]

一种纳米分辨率的应变测试设备及方法 [P].

郑锦坚 ;

郑清团 ;

王星河 ;

康俊勇 .

中国专利 :CN107091622A ,2017-08-25

[4]

凝视型超分辨率成像装置及方法 [P].

邵晓鹏 ;

王怡 ;

许洁 ;

刘飞 ;

杜鹃 .

中国专利 :CN104410789A ,2015-03-11

[5]

一种KVM分辨率测试方法 [P].

王佩 ;

孙连震 .

中国专利 :CN106445823A ,2017-02-22

[6]

多分辨率CT成像系统及方法 [P].

张丽 ;

高河伟 ;

邢宇翔 ;

陈志强 ;

邓智 ;

王振天 .

中国专利 :CN114199907A ,2022-03-18

[7]

多分辨率CT成像系统及方法 [P].

张丽 ;

高河伟 ;

邢宇翔 ;

陈志强 ;

邓智 ;

王振天 .

中国专利 :CN114199907B ,2024-02-09

[8]

一种超分辨率成像相机及其成像方法 [P].

郁雷 .

中国专利 :CN109981966A ,2019-07-05

[9]

一种超分辨率关联成像系统及成像方法 [P].

陈希浩 ;

孟少英 ;

付强 ;

孔繁慧 ;

李国栋 ;

沙颖慧 ;

史伟伟 ;

吴炜 ;

张静 .

中国专利 :CN108469685B ,2018-08-31

[10]

一种太赫兹图像的分辨率测试装置 [P].

范伟亮 ;

袁毅 ;

李畅 ;

陈昊 ;

康少晨 ;

梁冰 ;

曹沛 ;

孙义兴 ;

侯树海 .

中国专利 :CN112213082A ,2021-01-12

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