对离散状态颗粒粒度分布测量的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200720075060.5

申请日：

2007-09-27

公开(公告)号：

CN201130136Y

公开(公告)日：

2008-10-08

发明(设计)人：

苏明旭蔡小舒薛明华尚志涛唐荣山

申请人：

申请人地址：

200093上海市杨浦区军工路516号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01N1502 G01N1506 G01N2902 G06F1900

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司

代理人：

吴宝根

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-08	授权	授权
2011-11-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101144709790 IPC(主分类):G01N 15/00 专利号:ZL2007200750605 申请日:20070927 授权公告日:20081008 终止日期:20100927

共 50 条

[1]

对离散状态颗粒粒度分布测量的方法及其装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 ;

尚志涛 ;

唐荣山 .

中国专利 :CN101169364B ,2008-04-30

[2]

一种测量处于离散状态颗粒粒度分布的装置 [P].

苏明旭 ;

田昌 ;

蔡小舒 .

中国专利 :CN202661357U ,2013-01-09

[3]

基于连续波和猝发波测量离散状态颗粒粒度分布的方法 [P].

苏明旭 ;

田昌 ;

蔡小舒 .

中国专利 :CN102735595A ,2012-10-17

[4]

颗粒粒度、浓度和密度测量装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 .

中国专利 :CN201096703Y ,2008-08-06

[5]

一种颗粒粒度和浓度的测量装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN201096702Y ,2008-08-06

[6]

颗粒粒度、浓度和密度测量方法及其装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 .

中国专利 :CN101169363B ,2008-04-30

[7]

一种离散状态颗粒粒度分布的测量方法及装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 .

中国专利 :CN102590054A ,2012-07-18

[8]

一种颗粒粒度和浓度测量方法及其装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN101135626A ,2008-03-05

[9]

激光颗粒粒度分布测试仪 [P].

周已欣 ;

唐庆林 .

中国专利 :CN2645076Y ,2004-09-29

[10]

多分散颗粒系粒度分布测量装置 [P].

邢晓丹 ;

窦丽霞 ;

田丽 .

中国专利 :CN202101917U ,2012-01-04

← 1 2 3 4 5 →