一种颗粒粒度和浓度测量方法及其装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710046527.8

申请日：

2007-09-27

公开(公告)号：

CN101135626A

公开(公告)日：

2008-03-05

发明(设计)人：

蔡小舒苏明旭

申请人：

申请人地址：

200093上海市杨浦区军工路516号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01N1502 G01N1506 G01N29032 G06F1900

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司

代理人：

吴宝根

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-03-05	公开	公开
2011-09-14	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101183795767 IPC(主分类):G01N 15/00 专利申请号:2007100465278 公开日:20080305
2008-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

颗粒粒度、浓度和密度测量方法及其装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 .

中国专利 :CN101169363B ,2008-04-30

[2]

一种颗粒粒度和浓度的测量装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN201096702Y ,2008-08-06

[3]

颗粒粒度、浓度和密度测量装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 .

中国专利 :CN201096703Y ,2008-08-06

[4]

对离散状态颗粒粒度分布测量的方法及其装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 ;

尚志涛 ;

唐荣山 .

中国专利 :CN101169364B ,2008-04-30

[5]

对离散状态颗粒粒度分布测量的装置 [P].

苏明旭 ;

蔡小舒 ;

薛明华 ;

尚志涛 ;

唐荣山 .

中国专利 :CN201130136Y ,2008-10-08

[6]

一种颗粒粒度和浓度测量方法及其装置 [P].

赵华阳 .

中国专利 :CN108007835A ,2018-05-08

[7]

一种测量处于离散状态颗粒粒度分布的装置 [P].

苏明旭 ;

田昌 ;

蔡小舒 .

中国专利 :CN202661357U ,2013-01-09

[8]

颗粒粒度和形态的测量方法 [P].

王铜 ;

张磊 ;

张世镖 ;

于鸿宾 ;

刘建伟 ;

逄文好 ;

张卫 .

中国专利 :CN120445934B ,2025-09-30

[9]

颗粒粒度和形态的测量方法 [P].

王铜 ;

张磊 ;

张世镖 ;

于鸿宾 ;

刘建伟 ;

逄文好 ;

张卫 .

中国专利 :CN120445934A ,2025-08-08

[10]

一种基于发散超声波衰减的颗粒粒度测量装置及方法 [P].

苏明旭 ;

吴蓉蓉 ;

李俊峰 .

中国专利 :CN105092430A ,2015-11-25

← 1 2 3 4 5 →