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一种探针性能测试座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121208023.3
申请日
:
2021-06-01
公开(公告)号
:
CN214750640U
公开(公告)日
:
2021-11-16
发明(设计)人
:
不公告发明人
申请人
:
申请人地址
:
523000 广东省东莞市高埗镇高龙西路139号
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
广东有知猫知识产权代理有限公司 44681
代理人
:
崔新芬
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-16
授权
授权
共 50 条
[1]
一种探针及探针测试安装架
[P].
周天毫
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机构:
苏州微米光电子科技有限公司
苏州微米光电子科技有限公司
周天毫
;
余新文
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机构:
苏州微米光电子科技有限公司
苏州微米光电子科技有限公司
余新文
.
中国专利
:CN223400960U
,2025-09-30
[2]
一种探针测试设备及测试方法
[P].
涂炳超
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
涂炳超
;
肖荣辉
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
肖荣辉
;
梁家明
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
梁家明
;
廖永仲
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
廖永仲
;
闵玉迪
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
闵玉迪
;
王卫锋
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
王卫锋
.
中国专利
:CN120214546A
,2025-06-27
[3]
一种探针测试设备及测试方法
[P].
涂炳超
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
涂炳超
;
肖荣辉
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
肖荣辉
;
梁家明
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
梁家明
;
廖永仲
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
廖永仲
;
闵玉迪
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东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
闵玉迪
;
王卫锋
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机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
王卫锋
.
中国专利
:CN120214546B
,2025-07-22
[4]
一种探针测试装置
[P].
周公庆
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周公庆
;
马列
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马列
;
刘宗刚
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刘宗刚
;
马志强
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马志强
;
袁桃生
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袁桃生
;
谈仕祥
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谈仕祥
;
侯锟
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侯锟
;
苟小康
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苟小康
.
中国专利
:CN216670078U
,2022-06-03
[5]
一种测试探针组件
[P].
何西山
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机构:
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
何西山
;
何西江
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机构:
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
何西江
.
中国专利
:CN220983362U
,2024-05-17
[6]
一种探针座和测试设备
[P].
浦佳
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浦佳
;
刘伯杨
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刘伯杨
.
中国专利
:CN212008692U
,2020-11-24
[7]
一种批量测试样品的下压式探针测试座
[P].
朱雨帆
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朱雨帆
.
中国专利
:CN217404366U
,2022-09-09
[8]
探针性能测试方法
[P].
蒋文德
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机构:
上海道格特科技有限公司
上海道格特科技有限公司
蒋文德
;
娄兆一
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上海道格特科技有限公司
上海道格特科技有限公司
娄兆一
;
邱雄
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机构:
上海道格特科技有限公司
上海道格特科技有限公司
邱雄
.
中国专利
:CN120446849B
,2025-12-26
[9]
探针性能测试方法
[P].
蒋文德
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机构:
深圳市道格特科技有限公司
深圳市道格特科技有限公司
蒋文德
;
娄兆一
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机构:
深圳市道格特科技有限公司
深圳市道格特科技有限公司
娄兆一
;
邱雄
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机构:
深圳市道格特科技有限公司
深圳市道格特科技有限公司
邱雄
.
中国专利
:CN120446849A
,2025-08-08
[10]
自动旋转测试座探针及测试座
[P].
张森
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
张森
;
张永乐
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广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
张永乐
;
杨赟
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广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
杨赟
;
张俊
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
张俊
.
中国专利
:CN223413362U
,2025-10-03
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