一种探针测试设备及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510663165.5

申请日：

2025-05-22

公开(公告)号：

CN120214546A

公开(公告)日：

2025-06-27

发明(设计)人：

涂炳超肖荣辉梁家明廖永仲闵玉迪王卫锋

申请人：

东莞市台易电子科技有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市高埗镇高龙西路139号7号楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/073 G01R31/00

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

广东省东莞市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-27	公开	公开
2025-07-22	授权	授权
2025-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250522

共 50 条

[1]

一种探针测试设备及测试方法 [P].

涂炳超 ;

肖荣辉 ;

梁家明 ;

廖永仲 ;

闵玉迪 ;

王卫锋 .

中国专利 :CN120214546B ,2025-07-22

[2]

动态测试探针及测试设备 [P].

蒋苏 ;

李松林 ;

曹辉 .

中国专利 :CN220671507U ,2024-03-26

[3]

一种多探针测试装置及测试系统 [P].

段雄斌 ;

张利利 ;

何选民 .

中国专利 :CN222125312U ,2024-12-06

[4]

一种测试探针及测试设备 [P].

吴昊 ;

王磊 .

中国专利 :CN202837351U ,2013-03-27

[5]

一种多工位芯片测试设备、测试系统及测试方法 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

唐仁伟 .

中国专利 :CN118519003A ,2024-08-20

[6]

一种探针及探针测试安装架 [P].

周天毫 ;

余新文 .

中国专利 :CN223400960U ,2025-09-30

[7]

一种探针测试装置 [P].

周公庆 ;

马列 ;

刘宗刚 ;

马志强 ;

袁桃生 ;

谈仕祥 ;

侯锟 ;

苟小康 .

中国专利 :CN216670078U ,2022-06-03

[8]

一种测试探针组件 [P].

何西山 ;

何西江 .

中国专利 :CN220983362U ,2024-05-17

[9]

一种探针性能测试座 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN214750640U ,2021-11-16

[10]

一种探针卡全自动测试系统及测试方法 [P].

曹永焕 ;

金光哲 ;

朱春月 ;

崔相弦 .

中国专利 :CN119281667A ,2025-01-10

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