动态测试探针及测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321212044.1

申请日：

2023-05-16

公开(公告)号：

CN220671507U

公开(公告)日：

2024-03-26

发明(设计)人：

蒋苏李松林曹辉

申请人：

瑞浦兰钧能源股份有限公司

申请人地址：

325000 浙江省温州市龙湾区空港新区滨海六路205号C幢A205室

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R31/385 G01R31/389

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

王亚琼

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省温州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试探针 [P].

杨利雄 ;

刘志平 ;

杨龙 .

中国专利 :CN207123549U ,2018-03-20

[2]

一种测试探针及测试设备 [P].

吴昊 ;

王磊 .

中国专利 :CN202837351U ,2013-03-27

[3]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

[4]

测试探针、测试探针组件及测试平台 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03

[5]

晶圆测试探针和测试设备 [P].

何正鸿 ;

陶毅 ;

田旭 ;

陈泽 .

中国专利 :CN221595089U ,2024-08-23

[6]

芯片测试探针 [P].

曹会杰 .

中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21

[7]

一体式测试探针及测试设备 [P].

费保兴 ;

刘达 ;

杨亚坤 ;

周嘉伟 ;

黄绍伟 .

中国专利 :CN210051800U ,2020-02-11

[8]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19

[9]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

蔡明峻 ;

李尧 .

中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20

[10]

测试探针 [P].

李亚楠 ;

刘文明 ;

辛晓冬 ;

潘美泽 ;

孙晓宾 ;

杨大鹏 .

中国专利 :CN215984929U ,2022-03-08

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