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芯片测试探针

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202520452027.8
申请日：
2025-03-14
公开(公告)号：
CN223582021U
公开(公告)日：
2025-11-21
发明(设计)人：
曹会杰
申请人：
华杰智能科技（苏州）有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区科成路6号3号楼345室
IPC主分类号：
G01R1/067
IPC分类号：
G01R31/28
代理机构：
北京铭创聚诚知识产权代理有限公司 13156
代理人：
龙烁
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-21 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试探针及安装结构 [P]. 
宋增金 .
中国专利 :CN221976962U ,2024-11-08
[2]
一种CIS芯片用测试探针台 [P]. 
罗欢欢 ;
陆胤融 .
中国专利 :CN223413364U ,2025-10-03
[3]
芯片测试探针组件 [P]. 
殷国海 ;
金维军 .
中国专利 :CN223284267U ,2025-08-29
[4]
芯片测试探针座 [P]. 
李金龙 ;
吴后强 .
中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29
[5]
一种芯片测试探针组合装置 [P]. 
马杨 ;
孙振华 .
中国专利 :CN222850663U ,2025-05-09
[6]
一种芯片测试探针及芯片测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN114646787A ,2022-06-21
[7]
弹片测试探针及芯片测试座 [P]. 
钱晓晨 ;
蔡泓羿 ;
朱杰 .
中国专利 :CN221860533U ,2024-10-18
[8]
一种测试探针 [P]. 
蒋卫兵 ;
吴学军 .
中国专利 :CN220709233U ,2024-04-02
[9]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19
[10]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
闫丽 .
中国专利 :CN221883728U ,2024-10-22
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