芯片测试探针及安装结构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420437367.9

申请日：

2024-03-07

公开(公告)号：

CN221976962U

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

宋增金

申请人：

苏州韬盛电子科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

马笑雨

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试探针 [P].

曹会杰 .

中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21

[2]

弹片测试探针及芯片测试座 [P].

钱晓晨 ;

蔡泓羿 ;

朱杰 .

中国专利 :CN221860533U ,2024-10-18

[3]

一种芯片测试探针及芯片测试装置 [P].

罗跃浩 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114646787A ,2022-06-21

[4]

一种CIS芯片用测试探针台 [P].

罗欢欢 ;

陆胤融 .

中国专利 :CN223413364U ,2025-10-03

[5]

芯片测试探针组件 [P].

殷国海 ;

金维军 .

中国专利 :CN223284267U ,2025-08-29

[6]

芯片测试探针座 [P].

李金龙 ;

吴后强 .

中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29

[7]

一种芯片测试探针组合装置 [P].

马杨 ;

孙振华 .

中国专利 :CN222850663U ,2025-05-09

[8]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

[9]

一种测试探针 [P].

蒋卫兵 ;

吴学军 .

中国专利 :CN220709233U ,2024-04-02

[10]

一种模块化芯片测试探针卡结构 [P].

张磊 .

中国专利 :CN218180933U ,2022-12-30

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