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一种模块化芯片测试探针卡结构
被引:0
申请号
:
CN202220473116.7
申请日
:
2022-03-07
公开(公告)号
:
CN218180933U
公开(公告)日
:
2022-12-30
发明(设计)人
:
张磊
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市滨湖区雪浪街道南湖中路28-52号
IPC主分类号
:
G01R1067
IPC分类号
:
G01R1073
代理机构
:
北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297
代理人
:
王建文
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-30
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN223582021U
,2025-11-21
[2]
一种八引脚运放芯片测试探针卡
[P].
周国成
论文数:
0
引用数:
0
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0
周国成
.
中国专利
:CN218331853U
,2023-01-17
[3]
一种多芯片测试探针卡
[P].
辜诗涛
论文数:
0
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0
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0
辜诗涛
.
中国专利
:CN202216987U
,2012-05-09
[4]
一种多芯片测试探针卡
[P].
吴明涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴明涛
.
中国专利
:CN216718513U
,2022-06-10
[5]
一种芯片接口测试探针卡及测试方法
[P].
吕娅
论文数:
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吕娅
;
顾向前
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顾向前
;
辅俊海
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辅俊海
;
成学娇
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0
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0
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0
成学娇
.
中国专利
:CN112782561A
,2021-05-11
[6]
芯片测试探针及安装结构
[P].
宋增金
论文数:
0
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0
机构:
苏州韬盛电子科技有限公司
苏州韬盛电子科技有限公司
宋增金
.
中国专利
:CN221976962U
,2024-11-08
[7]
功率芯片测试探针卡
[P].
张宛平
论文数:
0
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0
张宛平
;
安奎
论文数:
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0
安奎
.
中国专利
:CN202093062U
,2011-12-28
[8]
一种CIS芯片用测试探针台
[P].
罗欢欢
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0
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机构:
上海岑沅半导体科技有限公司
上海岑沅半导体科技有限公司
罗欢欢
;
陆胤融
论文数:
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0
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0
机构:
上海岑沅半导体科技有限公司
上海岑沅半导体科技有限公司
陆胤融
.
中国专利
:CN223413364U
,2025-10-03
[9]
屏幕面板偏压芯片测试探针卡
[P].
赵永昌
论文数:
0
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赵永昌
;
鲁斌
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鲁斌
;
谷陈鹏
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谷陈鹏
;
宋旭
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宋旭
.
中国专利
:CN209086294U
,2019-07-09
[10]
一种芯片测试探针卡用研磨装置
[P].
张磊
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张磊
;
王锡湖
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王锡湖
.
中国专利
:CN214445369U
,2021-10-22
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