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一种芯片接口测试探针卡及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011643868.5
申请日
:
2020-12-30
公开(公告)号
:
CN112782561A
公开(公告)日
:
2021-05-11
发明(设计)人
:
吕娅
顾向前
辅俊海
成学娇
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R1073
代理机构
:
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
:
张仲波
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201230
2021-05-11
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN223582021U
,2025-11-21
[2]
一种多芯片测试探针卡
[P].
辜诗涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
辜诗涛
.
中国专利
:CN202216987U
,2012-05-09
[3]
功率芯片测试探针卡
[P].
张宛平
论文数:
0
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0
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0
张宛平
;
安奎
论文数:
0
引用数:
0
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0
安奎
.
中国专利
:CN202093062U
,2011-12-28
[4]
一种芯片测试探针装置
[P].
闫丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯启通微电子(成都)有限公司
中芯启通微电子(成都)有限公司
闫丽
.
中国专利
:CN221883728U
,2024-10-22
[5]
一种芯片测试探针及芯片测试装置
[P].
罗跃浩
论文数:
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引用数:
0
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0
罗跃浩
;
黄建军
论文数:
0
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0
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0
黄建军
;
胡海洋
论文数:
0
引用数:
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0
胡海洋
.
中国专利
:CN114646787A
,2022-06-21
[6]
测试探针卡
[P].
刘俊良
论文数:
0
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0
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0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
论文数:
0
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
.
中国专利
:CN120405196A
,2025-08-01
[7]
屏幕面板偏压芯片测试探针卡
[P].
赵永昌
论文数:
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赵永昌
;
鲁斌
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鲁斌
;
谷陈鹏
论文数:
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谷陈鹏
;
宋旭
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0
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宋旭
.
中国专利
:CN209086294U
,2019-07-09
[8]
一种多芯片测试探针卡
[P].
吴明涛
论文数:
0
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0
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0
吴明涛
.
中国专利
:CN216718513U
,2022-06-10
[9]
一种模块化芯片测试探针卡结构
[P].
张磊
论文数:
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张磊
.
中国专利
:CN218180933U
,2022-12-30
[10]
半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法
[P].
孙黎瑾
论文数:
0
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0
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0
孙黎瑾
.
中国专利
:CN108535519B
,2018-09-14
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