一种芯片接口测试探针卡及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011643868.5
申请日
2020-12-30
公开(公告)号
CN112782561A
公开(公告)日
2021-05-11
发明(设计)人
吕娅 顾向前 辅俊海 成学娇
申请人
申请人地址
300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R1073
代理机构
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
张仲波
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21
[2]
一种多芯片测试探针卡 [P]. 
辜诗涛 .
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[3]
功率芯片测试探针卡 [P]. 
张宛平 ;
安奎 .
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[4]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
闫丽 .
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[5]
一种芯片测试探针及芯片测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
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[6]
测试探针卡 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
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[7]
屏幕面板偏压芯片测试探针卡 [P]. 
赵永昌 ;
鲁斌 ;
谷陈鹏 ;
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[8]
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[9]
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[10]
半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法 [P]. 
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