一种多芯片测试探针卡

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申请号
CN202123056445.6
申请日
2021-12-07
公开(公告)号
CN216718513U
公开(公告)日
2022-06-10
发明(设计)人
吴明涛
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区唯新路59号
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611
代理人
周超
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种多芯片测试探针卡 [P]. 
辜诗涛 .
中国专利 :CN202216987U ,2012-05-09
[2]
功率芯片测试探针卡 [P]. 
张宛平 ;
安奎 .
中国专利 :CN202093062U ,2011-12-28
[3]
屏幕面板偏压芯片测试探针卡 [P]. 
赵永昌 ;
鲁斌 ;
谷陈鹏 ;
宋旭 .
中国专利 :CN209086294U ,2019-07-09
[4]
一种芯片测试探针卡用研磨装置 [P]. 
张磊 ;
王锡湖 .
中国专利 :CN214445369U ,2021-10-22
[5]
芯片测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21
[6]
测试探针卡 [P]. 
王小宝 ;
周柯 .
中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13
[7]
测试探针卡 [P]. 
王嘉煜 ;
卢忻杰 ;
李荣富 .
中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04
[8]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
郭虎 ;
李建伟 ;
宋银浩 .
中国专利 :CN222439562U ,2025-02-07
[9]
手机过压保护芯片测试探针卡 [P]. 
赵永昌 ;
鲁斌 ;
谷陈鹏 ;
刘诚 .
中国专利 :CN209086293U ,2019-07-09
[10]
一种垂臂芯片测试探针卡清洁装置 [P]. 
张磊 ;
王锡湖 .
中国专利 :CN213944093U ,2021-08-13