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一种芯片测试探针装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202420652865.5
申请日
:
2024-04-01
公开(公告)号
:
CN222439562U
公开(公告)日
:
2025-02-07
发明(设计)人
:
郭虎
李建伟
宋银浩
申请人
:
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
申请人地址
:
224000 江苏省盐城市盐城市盐南高新区科城街道人民南路38号新龙广场13号楼1607室
IPC主分类号
:
G01R1/067
IPC分类号
:
G01R1/04
G01R31/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-07
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试探针装置
[P].
张振峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
张振峰
;
杨国良
论文数:
0
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杨国良
;
邱德明
论文数:
0
引用数:
0
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邱德明
.
中国专利
:CN211905577U
,2020-11-10
[2]
一种芯片测试探针装置
[P].
常浩
论文数:
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0
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0
机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
常浩
;
刘增红
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机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
刘增红
;
陈春
论文数:
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机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
陈春
.
中国专利
:CN223565758U
,2025-11-18
[3]
一种精密芯片测试探针装置
[P].
杨彬
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0
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0
杨彬
.
中国专利
:CN210294344U
,2020-04-10
[4]
芯片测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
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0
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0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN223582021U
,2025-11-21
[5]
一种芯片测试探针装置
[P].
闫丽
论文数:
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0
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机构:
中芯启通微电子(成都)有限公司
中芯启通微电子(成都)有限公司
闫丽
.
中国专利
:CN221883728U
,2024-10-22
[6]
一种芯片测试探针装置
[P].
曾丹萍
论文数:
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曾丹萍
;
秦超强
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秦超强
.
中国专利
:CN216434188U
,2022-05-03
[7]
多芯片测试探针装置
[P].
张嘉泰
论文数:
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0
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张嘉泰
.
中国专利
:CN101881787A
,2010-11-10
[8]
一种多芯片测试探针卡
[P].
吴明涛
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吴明涛
.
中国专利
:CN216718513U
,2022-06-10
[9]
一种芯片测试探针及芯片测试装置
[P].
罗跃浩
论文数:
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罗跃浩
;
黄建军
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黄建军
;
胡海洋
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胡海洋
.
中国专利
:CN114646787A
,2022-06-21
[10]
一种超高精密芯片测试探针装置
[P].
缪秋贵
论文数:
0
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0
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0
缪秋贵
.
中国专利
:CN213633706U
,2021-07-06
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