一种超高精密芯片测试探针装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202022196311.3
申请日
2020-09-30
公开(公告)号
CN213633706U
公开(公告)日
2021-07-06
发明(设计)人
缪秋贵
申请人
申请人地址
518107 广东省深圳市光明区公明街道西田第四工业区利豪工业园第二栋三楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104 G01R1067
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种超高精密芯片测试探针 [P]. 
李文庭 .
中国专利 :CN216117740U ,2022-03-22
[2]
一种精密芯片测试探针装置 [P]. 
杨彬 .
中国专利 :CN210294344U ,2020-04-10
[3]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
中国专利 :CN211905577U ,2020-11-10
[4]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
郭虎 ;
李建伟 ;
宋银浩 .
中国专利 :CN222439562U ,2025-02-07
[5]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
常浩 ;
刘增红 ;
陈春 .
中国专利 :CN223565758U ,2025-11-18
[6]
芯片测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21
[7]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
闫丽 .
中国专利 :CN221883728U ,2024-10-22
[8]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
曾丹萍 ;
秦超强 .
中国专利 :CN216434188U ,2022-05-03
[9]
多芯片测试探针装置 [P]. 
张嘉泰 .
中国专利 :CN101881787A ,2010-11-10
[10]
一种用于高精密芯片测试的探针台 [P]. 
戚艳磊 .
中国专利 :CN216449623U ,2022-05-06