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一种超高精密芯片测试探针装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022196311.3
申请日
:
2020-09-30
公开(公告)号
:
CN213633706U
公开(公告)日
:
2021-07-06
发明(设计)人
:
缪秋贵
申请人
:
申请人地址
:
518107 广东省深圳市光明区公明街道西田第四工业区利豪工业园第二栋三楼
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
G01R1067
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-06
授权
授权
共 50 条
[1]
一种超高精密芯片测试探针
[P].
李文庭
论文数:
0
引用数:
0
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0
李文庭
.
中国专利
:CN216117740U
,2022-03-22
[2]
一种精密芯片测试探针装置
[P].
杨彬
论文数:
0
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0
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0
杨彬
.
中国专利
:CN210294344U
,2020-04-10
[3]
一种芯片测试探针装置
[P].
张振峰
论文数:
0
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张振峰
;
杨国良
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杨国良
;
邱德明
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0
邱德明
.
中国专利
:CN211905577U
,2020-11-10
[4]
一种芯片测试探针装置
[P].
郭虎
论文数:
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机构:
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
郭虎
;
李建伟
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机构:
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
李建伟
;
宋银浩
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0
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0
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机构:
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
炎黄国芯(盐城)科技有限公司
宋银浩
.
中国专利
:CN222439562U
,2025-02-07
[5]
一种芯片测试探针装置
[P].
常浩
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0
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机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
常浩
;
刘增红
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机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
刘增红
;
陈春
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机构:
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
矽佳半导体(嘉兴)有限公司
陈春
.
中国专利
:CN223565758U
,2025-11-18
[6]
芯片测试探针
[P].
曹会杰
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机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN223582021U
,2025-11-21
[7]
一种芯片测试探针装置
[P].
闫丽
论文数:
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机构:
中芯启通微电子(成都)有限公司
中芯启通微电子(成都)有限公司
闫丽
.
中国专利
:CN221883728U
,2024-10-22
[8]
一种芯片测试探针装置
[P].
曾丹萍
论文数:
0
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曾丹萍
;
秦超强
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秦超强
.
中国专利
:CN216434188U
,2022-05-03
[9]
多芯片测试探针装置
[P].
张嘉泰
论文数:
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张嘉泰
.
中国专利
:CN101881787A
,2010-11-10
[10]
一种用于高精密芯片测试的探针台
[P].
戚艳磊
论文数:
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0
戚艳磊
.
中国专利
:CN216449623U
,2022-05-06
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