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一种超高精密芯片测试探针
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122723242.1
申请日：
2021-11-09
公开(公告)号：
CN216117740U
公开(公告)日：
2022-03-22
发明(设计)人：
李文庭
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区松岗街道沙浦围第二工业区37栋B2
IPC主分类号：
G01R1067
IPC分类号：
代理机构：
深圳宏创有为知识产权代理事务所(普通合伙) 44837
代理人：
刘佳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-22 | 授权 | 授权 |