一种芯片测试探针

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专利类型
实用新型
申请号
CN201020664465.4
申请日
2010-12-17
公开(公告)号
CN201993393U
公开(公告)日
2011-09-28
发明(设计)人
沈芳珍 周燕明
申请人
申请人地址
315300 浙江省慈溪市慈溪经济开发区浦东村浦东
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21
[2]
一种芯片测试探针 [P]. 
何俊 .
中国专利 :CN220305392U ,2024-01-05
[3]
一种芯片测试探针 [P]. 
李鑫 ;
朱天成 ;
杨阳 .
中国专利 :CN203981726U ,2014-12-03
[4]
芯片测试探针组件 [P]. 
殷国海 ;
金维军 .
中国专利 :CN223284267U ,2025-08-29
[5]
芯片测试探针座 [P]. 
李金龙 ;
吴后强 .
中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29
[6]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
中国专利 :CN211905577U ,2020-11-10
[7]
一种芯片测试探针平台 [P]. 
马杨 ;
孙振华 .
中国专利 :CN222774609U ,2025-04-18
[8]
一种芯片检测用测试探针 [P]. 
顾培东 ;
潘胜琪 .
中国专利 :CN220795327U ,2024-04-16
[9]
一种芯片测试探针清洗装置 [P]. 
洪斌 ;
李伟 ;
王坤 .
中国专利 :CN215543295U ,2022-01-18
[10]
一种半导体芯片测试探针 [P]. 
谢江林 .
中国专利 :CN221686463U ,2024-09-10