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一种芯片测试探针清洗装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121565865.4
申请日
:
2021-07-09
公开(公告)号
:
CN215543295U
公开(公告)日
:
2022-01-18
发明(设计)人
:
洪斌
李伟
王坤
申请人
:
申请人地址
:
362100 福建省泉州市惠安县螺阳镇城南工业区站前路19号
IPC主分类号
:
B08B312
IPC分类号
:
B08B314
B08B1300
代理机构
:
泉州市文华专利代理有限公司 35205
代理人
:
张灵芬
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-18
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于半导体芯片的测试探针清洗装置
[P].
张文翰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市星曜微半导体有限公司
深圳市星曜微半导体有限公司
张文翰
;
毛诚寅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市星曜微半导体有限公司
深圳市星曜微半导体有限公司
毛诚寅
.
中国专利
:CN223505769U
,2025-11-04
[2]
芯片测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN223582021U
,2025-11-21
[3]
一种芯片测试探针装置
[P].
张振峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
张振峰
;
杨国良
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨国良
;
邱德明
论文数:
0
引用数:
0
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0
邱德明
.
中国专利
:CN211905577U
,2020-11-10
[4]
一种芯片测试探针
[P].
何俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
图湃科技(上海)有限公司
图湃科技(上海)有限公司
何俊
.
中国专利
:CN220305392U
,2024-01-05
[5]
一种芯片测试探针
[P].
沈芳珍
论文数:
0
引用数:
0
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0
沈芳珍
;
周燕明
论文数:
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引用数:
0
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0
周燕明
.
中国专利
:CN201993393U
,2011-09-28
[6]
一种芯片测试探针
[P].
李鑫
论文数:
0
引用数:
0
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李鑫
;
朱天成
论文数:
0
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0
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0
朱天成
;
杨阳
论文数:
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0
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0
杨阳
.
中国专利
:CN203981726U
,2014-12-03
[7]
一种半导体测试探针清洗装置
[P].
张唐魁
论文数:
0
引用数:
0
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0
张唐魁
.
中国专利
:CN208437298U
,2019-01-29
[8]
芯片测试探针组件
[P].
殷国海
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
殷国海
;
金维军
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
金维军
.
中国专利
:CN223284267U
,2025-08-29
[9]
芯片测试探针座
[P].
李金龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
佑光智能半导体科技(深圳)有限公司
佑光智能半导体科技(深圳)有限公司
李金龙
;
吴后强
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
佑光智能半导体科技(深圳)有限公司
佑光智能半导体科技(深圳)有限公司
吴后强
.
中国专利
:CN223166867U
,2025-07-29
[10]
一种测试探针的清洗设备
[P].
赵钦平
论文数:
0
引用数:
0
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0
赵钦平
.
中国专利
:CN204912178U
,2015-12-30
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