一种芯片测试探针清洗装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121565865.4
申请日
2021-07-09
公开(公告)号
CN215543295U
公开(公告)日
2022-01-18
发明(设计)人
洪斌 李伟 王坤
申请人
申请人地址
362100 福建省泉州市惠安县螺阳镇城南工业区站前路19号
IPC主分类号
B08B312
IPC分类号
B08B314 B08B1300
代理机构
泉州市文华专利代理有限公司 35205
代理人
张灵芬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种用于半导体芯片的测试探针清洗装置 [P]. 
张文翰 ;
毛诚寅 .
中国专利 :CN223505769U ,2025-11-04
[2]
芯片测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN223582021U ,2025-11-21
[3]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
中国专利 :CN211905577U ,2020-11-10
[4]
一种芯片测试探针 [P]. 
何俊 .
中国专利 :CN220305392U ,2024-01-05
[5]
一种芯片测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201993393U ,2011-09-28
[6]
一种芯片测试探针 [P]. 
李鑫 ;
朱天成 ;
杨阳 .
中国专利 :CN203981726U ,2014-12-03
[7]
一种半导体测试探针清洗装置 [P]. 
张唐魁 .
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[8]
芯片测试探针组件 [P]. 
殷国海 ;
金维军 .
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[9]
芯片测试探针座 [P]. 
李金龙 ;
吴后强 .
中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29
[10]
一种测试探针的清洗设备 [P]. 
赵钦平 .
中国专利 :CN204912178U ,2015-12-30