一种半导体测试探针清洗装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820995694.0

申请日：

2018-06-25

公开(公告)号：

CN208437298U

公开(公告)日：

2019-01-29

发明(设计)人：

张唐魁

申请人：

申请人地址：

231500 安徽省合肥市庐江县经济开发区

IPC主分类号：

B08B104

IPC分类号：

B08B102 B08B502 B08B504 B08B1300

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-29	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试探针 [P].

金英杰 .

中国专利 :CN201348641Y ,2009-11-18

[2]

一种半导体测试探针 [P].

唐艳霞 .

中国专利 :CN209231396U ,2019-08-09

[3]

一种半导体测试探针 [P].

傅马腾 .

中国专利 :CN207248946U ,2018-04-17

[4]

一种半导体测试探针 [P].

陈煜明 ;

何明锋 .

中国专利 :CN217305266U ,2022-08-26

[5]

一种半导体测试探针 [P].

袁勃然 .

中国专利 :CN210954122U ,2020-07-07

[6]

一种半导体测试探针 [P].

李越 .

中国专利 :CN212723010U ,2021-03-16

[7]

一种半导体测试探针清洗装置及方法 [P].

杨波 ;

杨应俊 ;

韦日文 ;

刘振辉 ;

沈杰 ;

梁贵 ;

王业文 ;

柯权珍 ;

高小伟 .

中国专利 :CN103316865A ,2013-09-25

[8]

半导体封装测试探针 [P].

邓勇泉 ;

张超 ;

赵攀登 ;

张鸿 .

中国专利 :CN212905054U ,2021-04-06

[9]

半导体精密测试探针 [P].

钟兴彬 ;

巫燕香 .

中国专利 :CN223711681U ,2025-12-23

[10]

半导体测试探针 [P].

叶云孟 .

中国专利 :CN203178322U ,2013-09-04

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