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一种半导体测试探针
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020828773.X
申请日：
2020-05-18
公开(公告)号：
CN212723010U
公开(公告)日：
2021-03-16
发明(设计)人：
李越
申请人：
申请人地址：
710077 陕西省西安市高新区丈八街办瞪羚路26号西安理工大学科技园E座312-04
IPC主分类号：
G01R1067
IPC分类号：
代理机构：
西安弘理专利事务所 61214
代理人：
宁文涛
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-03-16 | 授权 | 授权 |