半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810364885.1

申请日：

2018-04-23

公开(公告)号：

CN108535519B

公开(公告)日：

2018-09-14

发明(设计)人：

孙黎瑾

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

焦天雷

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-14	公开	公开
2018-10-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20180423
2020-11-24	授权	授权

共 50 条

[1]

测试结构、测试探针卡、测试系统及测试方法 [P].

竹敏 .

中国专利 :CN107367678B ,2017-11-21

[2]

测试探针卡和测试设备 [P].

吕娅 ;

何骁伟 ;

顾向前 ;

齐飞 .

中国专利 :CN117330800A ,2024-01-02

[3]

测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P].

刘俊良 ;

陈和也 ;

洪志纬 ;

千圣武 .

中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01

[4]

半导体芯片手动测试探针台 [P].

李艳霞 ;

李臣友 ;

于国辉 .

中国专利 :CN202183362U ,2012-04-04

[5]

功率芯片测试探针卡 [P].

张宛平 ;

安奎 .

中国专利 :CN202093062U ,2011-12-28

[6]

一种芯片接口测试探针卡及测试方法 [P].

吕娅 ;

顾向前 ;

辅俊海 ;

成学娇 .

中国专利 :CN112782561A ,2021-05-11

[7]

半导体芯片测试系统和方法 [P].

牟赟 .

中国专利 :CN109827970B ,2019-05-31

[8]

探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P].

金鹤龙 .

韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10

[9]

一种半导体芯片测试探针台 [P].

李越 .

中国专利 :CN212905002U ,2021-04-06

[10]

测试探针卡 [P].

刘俊良 ;

陈和也 .

中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01

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