测试结构、测试探针卡、测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610309536.0

申请日：

2016-05-11

公开(公告)号：

CN107367678B

公开(公告)日：

2017-11-21

发明(设计)人：

竹敏

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

高静;吴敏

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-11-21	公开	公开
2020-03-10	授权	授权
2017-12-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20160511

共 50 条

[1]

半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法 [P].

孙黎瑾 .

中国专利 :CN108535519B ,2018-09-14

[2]

测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P].

刘俊良 ;

陈和也 ;

洪志纬 ;

千圣武 .

中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01

[3]

测试探针、测试夹具及测试系统 [P].

徐泰奎 ;

章大泉 ;

陈牡 .

中国专利 :CN215297446U ,2021-12-24

[4]

测试探针卡 [P].

刘俊良 ;

陈和也 .

中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01

[5]

测试探针卡 [P].

王小宝 ;

周柯 .

中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13

[6]

测试探针卡 [P].

王嘉煜 ;

卢忻杰 ;

李荣富 .

中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04

[7]

测试电路、探针卡、测试系统及测试方法 [P].

魏斯默 ;

杨峰 .

中国专利 :CN117706144A ,2024-03-15

[8]

测试探针卡和测试设备 [P].

吕娅 ;

何骁伟 ;

顾向前 ;

齐飞 .

中国专利 :CN117330800A ,2024-01-02

[9]

探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P].

金鹤龙 .

韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10

[10]

高频测试探针卡 [P].

吴彦 .

中国专利 :CN210514408U ,2020-05-12

← 1 2 3 4 5 →