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测试探针、探针卡和测试探针制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510600211.7
申请日
:
2025-05-09
公开(公告)号
:
CN120405195A
公开(公告)日
:
2025-08-01
发明(设计)人
:
刘俊良
陈和也
洪志纬
千圣武
申请人
:
芯卓科技(浙江)有限公司
申请人地址
:
322008 浙江省金华市义乌市后宅街道净居东路201号3号楼1-3层(自主申报)
IPC主分类号
:
G01R1/067
IPC分类号
:
G01R1/073
G01R3/00
代理机构
:
北京润平知识产权代理有限公司 11283
代理人
:
郑磊
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-19
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/067申请日:20250509
2025-08-01
公开
公开
共 50 条
[1]
测试探针和制造测试探针的方法
[P].
K.K.具
论文数:
0
引用数:
0
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0
K.K.具
.
中国专利
:CN104977440B
,2015-10-14
[2]
测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
刘文霖
论文数:
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0
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0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
刘文霖
;
林其达
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0
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0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
林其达
.
中国专利
:CN118624964A
,2024-09-10
[3]
测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
刘文霖
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
刘文霖
;
林其达
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0
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机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
林其达
.
中国专利
:CN118624964B
,2025-01-10
[4]
测试探针卡
[P].
刘俊良
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
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0
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
.
中国专利
:CN120405196A
,2025-08-01
[5]
测试探针卡
[P].
王小宝
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0
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王小宝
;
周柯
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0
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0
周柯
.
中国专利
:CN203772909U
,2014-08-13
[6]
测试探针卡
[P].
王嘉煜
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王嘉煜
;
卢忻杰
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卢忻杰
;
李荣富
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李荣富
.
中国专利
:CN202102019U
,2012-01-04
[7]
测试探针
[P].
周焱
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周焱
;
但艺
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但艺
;
许卓
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许卓
;
付剑波
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付剑波
;
朱海鹏
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朱海鹏
;
梁鹏
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梁鹏
;
张玉青
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张玉青
;
冉敏
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冉敏
;
卓越越
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卓越越
;
侯帅
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侯帅
;
金熙哲
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金熙哲
;
吴海龙
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吴海龙
.
中国专利
:CN108226583A
,2018-06-29
[8]
测试探针
[P].
蔡兴杰
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机构:
合肥晶岚半导体有限公司
合肥晶岚半导体有限公司
蔡兴杰
.
中国专利
:CN221378066U
,2024-07-19
[9]
测试探针
[P].
蔡宗明
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0
机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
蔡宗明
;
黄文强
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机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
黄文强
;
陈永辉
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机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
陈永辉
;
李尧
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机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
李尧
.
中国专利
:CN114062737B
,2025-04-15
[10]
测试探针
[P].
蔡宗明
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蔡宗明
;
曾翔
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曾翔
;
蔡明峻
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蔡明峻
;
李尧
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0
李尧
.
中国专利
:CN213750022U
,2021-07-20
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