测试探针、探针卡和测试探针制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510600211.7
申请日
2025-05-09
公开(公告)号
CN120405195A
公开(公告)日
2025-08-01
发明(设计)人
刘俊良 陈和也 洪志纬 千圣武
申请人
芯卓科技(浙江)有限公司
申请人地址
322008 浙江省金华市义乌市后宅街道净居东路201号3号楼1-3层(自主申报)
IPC主分类号
G01R1/067
IPC分类号
G01R1/073 G01R3/00
代理机构
北京润平知识产权代理有限公司 11283
代理人
郑磊
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试探针和制造测试探针的方法 [P]. 
K.K.具 .
中国专利 :CN104977440B ,2015-10-14
[2]
测试探针和用于测试探针的制造方法 [P]. 
刘文霖 ;
林其达 .
中国专利 :CN118624964A ,2024-09-10
[3]
测试探针和用于测试探针的制造方法 [P]. 
刘文霖 ;
林其达 .
中国专利 :CN118624964B ,2025-01-10
[4]
测试探针卡 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01
[5]
测试探针卡 [P]. 
王小宝 ;
周柯 .
中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13
[6]
测试探针卡 [P]. 
王嘉煜 ;
卢忻杰 ;
李荣富 .
中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04
[7]
测试探针 [P]. 
周焱 ;
但艺 ;
许卓 ;
付剑波 ;
朱海鹏 ;
梁鹏 ;
张玉青 ;
冉敏 ;
卓越越 ;
侯帅 ;
金熙哲 ;
吴海龙 .
中国专利 :CN108226583A ,2018-06-29
[8]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19
[9]
测试探针 [P]. 
蔡宗明 ;
黄文强 ;
陈永辉 ;
李尧 .
中国专利 :CN114062737B ,2025-04-15
[10]
测试探针 [P]. 
蔡宗明 ;
曾翔 ;
蔡明峻 ;
李尧 .
中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20