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测试探针和制造测试探针的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510172275.8
申请日
:
2015-04-13
公开(公告)号
:
CN104977440B
公开(公告)日
:
2015-10-14
发明(设计)人
:
K.K.具
申请人
:
申请人地址
:
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号
IPC主分类号
:
G01R1067
IPC分类号
:
G01R300
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
王洪斌;胡莉莉
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-29
授权
授权
2015-11-18
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101633319645 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2015101722758 申请日:20150413
2015-10-14
公开
公开
共 50 条
[1]
测试探针、探针卡和测试探针制造方法
[P].
刘俊良
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
;
洪志纬
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
洪志纬
;
千圣武
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
千圣武
.
中国专利
:CN120405195A
,2025-08-01
[2]
测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
刘文霖
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机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
刘文霖
;
林其达
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机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
林其达
.
中国专利
:CN118624964B
,2025-01-10
[3]
测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
刘文霖
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机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
刘文霖
;
林其达
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机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
林其达
.
中国专利
:CN118624964A
,2024-09-10
[4]
一种测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
方经军
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机构:
苏州斯丹德电子科技有限公司
苏州斯丹德电子科技有限公司
方经军
.
中国专利
:CN120334582A
,2025-07-18
[5]
测试探针
[P].
周焱
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周焱
;
但艺
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但艺
;
许卓
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许卓
;
付剑波
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付剑波
;
朱海鹏
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朱海鹏
;
梁鹏
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梁鹏
;
张玉青
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张玉青
;
冉敏
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冉敏
;
卓越越
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卓越越
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侯帅
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侯帅
;
金熙哲
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金熙哲
;
吴海龙
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吴海龙
.
中国专利
:CN108226583A
,2018-06-29
[6]
测试探针
[P].
蔡兴杰
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机构:
合肥晶岚半导体有限公司
合肥晶岚半导体有限公司
蔡兴杰
.
中国专利
:CN221378066U
,2024-07-19
[7]
测试探针
[P].
蔡宗明
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机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
蔡宗明
;
黄文强
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东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
黄文强
;
陈永辉
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东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
陈永辉
;
李尧
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机构:
东莞中探探针有限公司
东莞中探探针有限公司
李尧
.
中国专利
:CN114062737B
,2025-04-15
[8]
测试探针
[P].
蔡宗明
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蔡宗明
;
曾翔
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曾翔
;
蔡明峻
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蔡明峻
;
李尧
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李尧
.
中国专利
:CN213750022U
,2021-07-20
[9]
测试探针
[P].
李亚楠
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李亚楠
;
刘文明
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刘文明
;
辛晓冬
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辛晓冬
;
潘美泽
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潘美泽
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孙晓宾
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孙晓宾
;
杨大鹏
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杨大鹏
.
中国专利
:CN215984929U
,2022-03-08
[10]
测试探针
[P].
徐波
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机构:
苏州萨沙迈半导体有限公司
苏州萨沙迈半导体有限公司
徐波
;
陈建明
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机构:
苏州萨沙迈半导体有限公司
苏州萨沙迈半导体有限公司
陈建明
.
中国专利
:CN308657336S
,2024-05-28
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