一种测试探针和用于测试探针的制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510510462.6

申请日：

2025-04-23

公开(公告)号：

CN120334582A

公开(公告)日：

2025-07-18

发明(设计)人：

方经军

申请人：

苏州斯丹德电子科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇珠江南路211号1幢1226-1室

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R3/00

代理机构：

深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459

代理人：

毛宇轩

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/067申请日:20250423
2025-07-18	公开	公开

共 50 条

[1]

测试探针和用于测试探针的制造方法 [P].

刘文霖 ;

林其达 .

中国专利 :CN118624964B ,2025-01-10

[2]

测试探针和用于测试探针的制造方法 [P].

刘文霖 ;

林其达 .

中国专利 :CN118624964A ,2024-09-10

[3]

测试探针和制造测试探针的方法 [P].

K.K.具 .

中国专利 :CN104977440B ,2015-10-14

[4]

测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P].

刘俊良 ;

陈和也 ;

洪志纬 ;

千圣武 .

中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01

[5]

测试探针 [P].

周焱 ;

但艺 ;

许卓 ;

付剑波 ;

朱海鹏 ;

梁鹏 ;

张玉青 ;

冉敏 ;

卓越越 ;

侯帅 ;

金熙哲 ;

吴海龙 .

中国专利 :CN108226583A ,2018-06-29

[6]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19

[7]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

黄文强 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN114062737B ,2025-04-15

[8]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

蔡明峻 ;

李尧 .

中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20

[9]

测试探针 [P].

李亚楠 ;

刘文明 ;

辛晓冬 ;

潘美泽 ;

孙晓宾 ;

杨大鹏 .

中国专利 :CN215984929U ,2022-03-08

[10]

测试探针 [P].

徐波 ;

陈建明 .

中国专利 :CN308657336S ,2024-05-28

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