用于检验电子元件的装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410075123.1

申请日：

2014-03-03

公开(公告)号：

CN103941115B

公开(公告)日：

2014-07-23

发明(设计)人：

G·斯坦尼斯泽维斯基 M·彼得曼 G·吉克文德伯格

申请人：

申请人地址：

德国罗森海姆市外奥伯豪森4号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

北京高文律师事务所 11359

代理人：

程义贵

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-23	公开	公开
2017-06-13	授权	授权
2014-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101591912294 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2014100751231 申请日:20140303

共 50 条

[1]

电子元件检验的方法 [P].

菲利蒲·里吉恩 .

中国专利 :CN1220008A ,1999-06-16

[2]

电子元件的检验方法 [P].

菲利浦·列尤恩 .

中国专利 :CN1309299A ,2001-08-22

[3]

用于电子元件的取出装置 [P].

P·德罗马 ;

C·弗鲁瓦德沃 .

中国专利 :CN1695413A ,2005-11-09

[4]

用于电子元件的供给装置 [P].

斯文·霍尔格·斯特雷夫 .

中国专利 :CN101784180A ,2010-07-21

[5]

用于翻转电子元件的装置 [P].

B·蒙塔冯 ;

E·雷莫奈 .

中国专利 :CN1682579A ,2005-10-12

[6]

用于分选电子元件的装置 [P].

谢泓龙 ;

黄振声 ;

杨家荣 ;

梁楚为 .

中国专利 :CN104916526A ,2015-09-16

[7]

用于电子元件的定位装置 [P].

刘光全 .

中国专利 :CN108480897B ,2018-09-04

[8]

用于电子元件的防护装置 [P].

刘玉健 ;

张建永 ;

李晓阳 ;

林红权 ;

王坤 ;

汪大程 ;

张宇 ;

陈如梦 .

中国专利 :CN118234165A ,2024-06-21

[9]

用于冷却电子元件的装置 [P].

K·赫德贝里 ;

P·－O·比尔肯舍 .

中国专利 :CN1199544C ,2003-06-04

[10]

用于电子元件的导热装置 [P].

吴哲元 .

中国专利 :CN204796006U ,2015-11-18

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