电子元件检验的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN97195009.1

申请日：

1997-05-23

公开(公告)号：

CN1220008A

公开(公告)日：

1999-06-16

发明(设计)人：

菲利蒲·里吉恩

申请人：

申请人地址：

法国杜尔丹

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

马浩

法律状态：

实质审查请求的生效

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1999-06-23	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效
1999-06-16	公开	公开
2009-07-22	专利权的终止(未缴年费专利权终止)	专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2002-09-04	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元件的检验方法 [P].

菲利浦·列尤恩 .

中国专利 :CN1309299A ,2001-08-22

[2]

用于检验电子元件的装置 [P].

G·斯坦尼斯泽维斯基 ;

M·彼得曼 ;

G·吉克文德伯格 .

中国专利 :CN103941115B ,2014-07-23

[3]

电子元件、电子元件模块以及制造电子元件的方法 [P].

松尾美惠 .

中国专利 :CN1677705A ,2005-10-05

[4]

电子元件的检验维护系统以及方法 [P].

梁惠贞 .

中国专利 :CN101145216A ,2008-03-19

[5]

电子元件的制造方法和电子元件 [P].

王秀 .

中国专利 :CN113724997A ,2021-11-30

[6]

电子元件以及电子元件的制造方法 [P].

坂本晋一 ;

程志刚 ;

费尔南多·尚·莫克 ;

川原井贡 .

中国专利 :CN111063504B ,2020-04-24

[7]

电子元件以及电子元件的制造方法 [P].

坂本晋一 ;

程志刚 ;

费尔南多·尚·莫克 ;

川原井贡 .

中国专利 :CN104051129A ,2014-09-17

[8]

电子元件以及电子元件的制造方法 [P].

坂本晋一 ;

程志刚 ;

费尔南多·尚·莫克 ;

川原井贡 .

中国专利 :CN111223633A ,2020-06-02

[9]

电子元件以及电子元件的制造方法 [P].

坂本晋一 ;

程志刚 ;

费尔南多·尚·莫克 ;

川原井贡 .

中国专利 :CN109285653A ,2019-01-29

[10]

电子元件处理装置和电子元件处理方法 [P].

佐佐田和哉 .

中国专利 :CN1404083A ,2003-03-19

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