电子元件检验的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN97195009.1
申请日
1997-05-23
公开(公告)号
CN1220008A
公开(公告)日
1999-06-16
发明(设计)人
菲利蒲·里吉恩
申请人
申请人地址
法国杜尔丹
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
马浩
法律状态
实质审查请求的生效
国省代码
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共 50 条
[21]
电子元件以及电子元件的制造方法 [P]. 
坂本晋一 ;
程志刚 ;
费尔南多·尚·莫克 ;
川原井贡 .
中国专利 :CN109285651B ,2019-01-29
[22]
电子元件的制造方法以及电子元件 [P]. 
鎌田将尚 ;
山名广章 ;
八木岩 ;
川岛纪之 .
中国专利 :CN102386331A ,2012-03-21
[23]
电子元件的制造方法和电子元件 [P]. 
河内誉男 ;
佐藤芳春 ;
小川高浩 .
中国专利 :CN105684111A ,2016-06-15
[24]
电子元件以及电子元件的制造方法 [P]. 
坂本晋一 ;
程志刚 ;
费尔南多·尚·莫克 ;
川原井贡 .
中国专利 :CN111180188A ,2020-05-19
[25]
电子元件置放方法 [P]. 
谢博杰 ;
陈定楷 .
中国专利 :CN101183397A ,2008-05-21
[26]
电子元件、使用该电子元件的电子元件装置及其制造方法 [P]. 
舟木达弥 .
中国专利 :CN101479839A ,2009-07-08
[27]
电子元件封装装置及电子元件封装方法 [P]. 
小暮吉成 ;
武田泰英 .
中国专利 :CN102044450A ,2011-05-04
[28]
电子元件的制造方法、母板和电子元件 [P]. 
工藤和秀 ;
松永季 .
中国专利 :CN1914699A ,2007-02-14
[29]
制作电子元件的方法及相应的电子元件 [P]. 
K·方克 ;
K·弗莫萨 .
中国专利 :CN106257665A ,2016-12-28
[30]
电子元件的制造方法、电子元件以及电子仪器 [P]. 
桥元伸晃 .
中国专利 :CN100444312C ,2006-09-06