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金属氧化物蚀刻液组合物及蚀刻方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410478206.5
申请日
:
2014-09-18
公开(公告)号
:
CN104449739A
公开(公告)日
:
2015-03-25
发明(设计)人
:
大和田拓央
清水寿和
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
C09K1304
IPC分类号
:
C09K1300
C09K1306
H01L21467
H01L29786
代理机构
:
上海一平知识产权代理有限公司 31266
代理人
:
崔佳佳;马莉华
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-03-25
公开
公开
2020-04-21
授权
授权
2016-08-24
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101676318066 IPC(主分类):C09K 13/04 专利申请号:2014104782065 申请日:20140918
共 50 条
[1]
金属氧化物蚀刻液组合物及蚀刻方法
[P].
大和田拓央
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大和田拓央
;
清水寿和
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
清水寿和
.
中国专利
:CN111286333A
,2020-06-16
[2]
铜系金属膜和金属氧化物膜蚀刻液组合物及蚀刻方法
[P].
李恩远
论文数:
0
引用数:
0
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0
李恩远
;
朴升煜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朴升煜
;
梁承宰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁承宰
.
中国专利
:CN107083552A
,2017-08-22
[3]
蚀刻液组合物及蚀刻方法
[P].
河野良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
河野良
;
清水寿和
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
清水寿和
.
中国专利
:CN105297022A
,2016-02-03
[4]
一种金属氧化物蚀刻液组合物及蚀刻工艺
[P].
周瑞平
论文数:
0
引用数:
0
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0
周瑞平
;
张东升
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张东升
.
中国专利
:CN115305090A
,2022-11-08
[5]
蚀刻液、氧化物半导体器件及蚀刻方法
[P].
金妍伶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金妍伶
.
中国专利
:CN115368899A
,2022-11-22
[6]
蚀刻液、氧化物半导体器件及蚀刻方法
[P].
金妍伶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
金妍伶
.
中国专利
:CN115368899B
,2025-07-04
[7]
用于金属氧化物层的蚀刻剂组合物
[P].
权五炳
论文数:
0
引用数:
0
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0
权五炳
;
金童基
论文数:
0
引用数:
0
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0
金童基
;
田玹守
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
田玹守
.
中国专利
:CN103911157A
,2014-07-09
[8]
用于金属氧化物层的蚀刻剂组合物
[P].
金童基
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金童基
;
田玹守
论文数:
0
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0
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0
田玹守
;
郑敬燮
论文数:
0
引用数:
0
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0
郑敬燮
.
中国专利
:CN103911156B
,2014-07-09
[9]
蚀刻液组合物和氧化物半导体器件
[P].
李恩庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
李恩庆
.
中国专利
:CN117468002A
,2024-01-30
[10]
蚀刻液组合物和氧化物半导体器件
[P].
李恩庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TCL华星光电技术有限公司
TCL华星光电技术有限公司
李恩庆
.
中国专利
:CN117468002B
,2025-10-10
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