共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种电子元件性能测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021731748.6
申请日：
2020-08-19
公开(公告)号：
CN212514710U
公开(公告)日：
2021-02-09
发明(设计)人：
潘辉
喻大鹏
周健
申请人：
申请人地址：
550014 贵州省贵阳市白云区第二十六大道1656号顺络迅达工业园
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3100
代理机构：
贵阳中新专利商标事务所 52100
代理人：
胡绪东
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-02-09 | 授权 | 授权 |