一种电子元件移动测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720013239.1

申请日：

2017-01-06

公开(公告)号：

CN206348405U

公开(公告)日：

2017-07-21

发明(设计)人：

李超

申请人：

申请人地址：

300000 天津市武清区曹子里乡花城中路西侧88号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-21	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20170106 授权公告日:20170721 终止日期:20180106
2017-07-21	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元件移动测试设备 [P].

阳晓昱 ;

刘辉 ;

高文天 ;

吕维勇 ;

冯燕 ;

高艳萍 ;

王喜燕 .

中国专利 :CN113189423A ,2021-07-30

[2]

电子元件测试设备 [P].

林芳旭 ;

卢昱呈 ;

吴振维 ;

林冠龙 .

中国专利 :CN222174978U ,2024-12-17

[3]

一种电子元件测试设备 [P].

赵文俊 ;

林冠荣 .

中国专利 :CN218223600U ,2023-01-06

[4]

一种电子元件测试设备 [P].

张锦连 .

中国专利 :CN217766785U ,2022-11-08

[5]

电子元件测试设备及其移动校准机构 [P].

刘丹 .

中国专利 :CN207986161U ,2018-10-19

[6]

一种电子元件性能测试设备 [P].

潘辉 ;

喻大鹏 ;

周健 .

中国专利 :CN212514710U ,2021-02-09

[7]

电子元件测试设备 [P].

卢昱呈 ;

林芳旭 ;

陆志益 ;

吴振维 .

中国专利 :CN119140458A ,2024-12-17

[8]

电子元件测试设备 [P].

王大为 ;

陈世杰 ;

高俊 ;

葛小虎 .

中国专利 :CN119076430A ,2024-12-06

[9]

电子元件测试设备 [P].

尤信超 ;

陈永宏 .

中国专利 :CN106290991A ,2017-01-04

[10]

电子元件测试设备 [P].

梁晋玮 .

中国专利 :CN111044839B ,2020-04-21

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