一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111592415.9

申请日：

2021-12-23

公开(公告)号：

CN114138675A

公开(公告)日：

2022-03-04

发明(设计)人：

赵汝均

申请人：

申请人地址：

510663 广东省广州市天河区高普路115号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

李泽艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-04	公开	公开
2022-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211223

共 50 条

[1]

接口测试用例生成方法、电子设备和存储介质 [P].

郑家文 .

中国专利 :CN114398293B ,2025-02-11

[2]

接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

潘林圣 ;

侍小欣 .

中国专利 :CN109254920A ,2019-01-22

[3]

接口测试用例生成方法、电子装置及存储介质 [P].

黄煜雄 ;

钟义彪 ;

陈伟 ;

陈丽冰 .

中国专利 :CN111459812A ,2020-07-28

[4]

接口测试用例生成方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

田晓姣 .

中国专利 :CN114546857A ,2022-05-27

[5]

测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P].

宋东辉 ;

朱丽青 ;

阳际荣 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18

[6]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

谭林斯 ;

李野 ;

甄坡 ;

袁友高 ;

覃海鸥 .

中国专利 :CN112631929A ,2021-04-09

[7]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨春 .

中国专利 :CN115391219B ,2025-07-22

[8]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

靳铃花 ;

梁佳 ;

梁文艳 ;

李玉梅 ;

刘云 ;

陈哲桓 .

中国专利 :CN120353711A ,2025-07-22

[9]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨春 .

中国专利 :CN115391219A ,2022-11-25

[10]

一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

梅强强 ;

吴学亮 ;

李慧 ;

刘慧 .

中国专利 :CN115080411A ,2022-09-20

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