一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510141264.3

申请日：

2015-03-28

公开(公告)号：

CN106153654A

公开(公告)日：

2016-11-23

发明(设计)人：

赵竞泽王晓旭邱蒙张勋桑妍张丽丽陈英丽韩丽丽雷学斌张辉

申请人：

申请人地址：

114000 辽宁省鞍山市铁西区环钢路1号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

鞍山嘉讯科技专利事务所 21224

代理人：

张群

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 23/223 申请公布日:20161123
2016-11-23	公开	公开
2016-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101692516397 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2015101412643 申请日:20150328

共 50 条

[1]

一种X射线荧光粉末压片法分析红土镍矿的方法 [P].

白亚文 ;

赵鸿雁 ;

谭洪 .

:CN119064397A ,2024-12-03

[2]

应用X荧光粉末压片法测定萤石中组分含量的方法 [P].

马爱方 ;

冯士娟 ;

郑连杰 ;

左丽峰 ;

陈剑 ;

刘宾 ;

商英 ;

黄泽林 ;

马永昌 ;

周冀锋 ;

刘志宏 ;

赵超 ;

高小飞 .

中国专利 :CN102809578A ,2012-12-05

[3]

一种快速分析磷酸成分的X射线荧光分析方法 [P].

刘建红 ;

钟跃汉 ;

孙友宝 ;

黄涛宏 .

中国专利 :CN120577342A ,2025-09-02

[4]

粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107228874A ,2017-10-03

[5]

一种铁矿石的X荧光分析方法 [P].

王春 ;

王再鼎 ;

丁连萍 .

中国专利 :CN102854210A ,2013-01-02

[6]

X射线荧光光谱法分析有机硅触体中17种元素的含量 [P].

吴云华 .

中国专利 :CN102539463A ,2012-07-04

[7]

一种适用于X射线荧光光谱仪分析的玻璃原料压片方法 [P].

吴雪良 ;

周俊 ;

朱涛 ;

武杰 ;

陈士威 ;

封磊 .

中国专利 :CN114689632A ,2022-07-01

[8]

一种X射线荧光光谱测定铁矿石中钠元素含量的方法 [P].

张鲁宁 ;

王亚朋 ;

牟英华 ;

唐语 ;

王伟 ;

孟宪涛 .

中国专利 :CN118464966A ,2024-08-09

[9]

一种KR脱硫剂的X射线荧光分析方法 [P].

许超 ;

陈宁娜 ;

张蕾 ;

曾静 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN119715637A ,2025-03-28

[10]

一种预搅拌耐火泥浆的X射线荧光分析方法 [P].

许超 ;

陈宁娜 ;

张蕾 ;

曾静 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN117571762A ,2024-02-20

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