氮化物晶体

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910683527.1
申请日
2019-07-26
公开(公告)号
CN110777433A
公开(公告)日
2020-02-11
发明(设计)人
藤仓序章 今野泰一郎 吉田丈洋
申请人
申请人地址
日本茨城县
IPC主分类号
C30B2940
IPC分类号
C30B2502
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;李茂家
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
氮化物晶体 [P]. 
藤仓序章 ;
今野泰一郎 ;
铃木贵征 ;
北村寿朗 ;
藤本哲尔 ;
吉田丈洋 .
日本专利 :CN110777431B ,2024-02-06
[2]
氮化物晶体 [P]. 
藤仓序章 ;
今野泰一郎 ;
铃木贵征 ;
北村寿朗 ;
藤本哲尔 ;
吉田丈洋 .
中国专利 :CN110777431A ,2020-02-11
[3]
氮化物晶体 [P]. 
藤仓序章 ;
今野泰一郎 ;
吉田丈洋 .
中国专利 :CN110777432A ,2020-02-11
[4]
氮化物晶体、半导体层叠物、氮化物晶体的制造方法和氮化物晶体制造装置 [P]. 
藤仓序章 ;
木村健司 ;
今野泰一郎 .
中国专利 :CN114941177A ,2022-08-26
[5]
氮化物晶体基板 [P]. 
吉田丈洋 ;
柴田真佐知 .
中国专利 :CN108779579A ,2018-11-09
[6]
制造氮化物半导体晶体的方法、氮化物半导体晶体以及制造氮化物半导体晶体的装置 [P]. 
佐藤一成 ;
宫永伦正 ;
山本喜之 .
中国专利 :CN102159755B ,2011-08-17
[7]
制造氮化物半导体晶体的装置、制造氮化物半导体晶体的方法和氮化物半导体晶体 [P]. 
佐藤一成 ;
宫永伦正 ;
山本喜之 ;
中幡英章 .
中国专利 :CN102131964A ,2011-07-20
[8]
氮化物晶体衬底和氮化物晶体衬底的制造方法 [P]. 
今野泰一郎 ;
横山正史 ;
藤仓序章 .
日本专利 :CN120138810A ,2025-06-13
[9]
氮化物晶体基板以及氮化物晶体基板的制造方法 [P]. 
堀切文正 ;
木村健 .
中国专利 :CN110499533A ,2019-11-26
[10]
氮化物晶体衬底的制造方法和氮化物晶体衬底 [P]. 
今野泰一郎 ;
横山正史 ;
藤仓序章 .
日本专利 :CN119859847A ,2025-04-22