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用于CMOS图像传感器电性能的测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200710130071.3
申请日：
2007-07-30
公开(公告)号：
CN101360254A
公开(公告)日：
2009-02-04
发明(设计)人：
黄林
朱若虹
申请人：
申请人地址：
518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
IPC主分类号：
H04N1700
IPC分类号：
H04N5335
代理机构：
北京润平知识产权代理有限公司
代理人：
王凤桐;魏振华
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2010-06-16 | 授权 | 授权 |
| 2009-05-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
| 2009-02-04 | 公开 | 公开 |
| 2018-08-17 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20070730 授权公告日:20100616 终止日期:20170730 |