用于极低温测量的芯片检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921618181.9

申请日：

2019-09-26

公开(公告)号：

CN211086516U

公开(公告)日：

2020-07-24

发明(设计)人：

张跃宗

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道龙翔大道2188号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 G01N2184 G01N21956 F25D310

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司 44102

代理人：

罗晓林

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190926 授权公告日:20200724 终止日期:20210926
2020-07-24	授权	授权

共 50 条

[1]

可用于极低温测量的便捷芯片测试座 [P].

钟源 ;

李劲劲 ;

曹文会 ;

钟青 ;

王雪深 .

中国专利 :CN104764909A ,2015-07-08

[2]

一种用于极低温测量的仪表 [P].

黄健 ;

主保玉 ;

黎卫平 ;

曹文波 ;

尹良好 ;

叶一郎 .

中国专利 :CN218381336U ,2023-01-24

[3]

一种用于极低温测量的变送器 [P].

黄健 ;

曹文波 ;

主保玉 ;

黎卫平 ;

叶一郎 ;

尹良好 .

中国专利 :CN218068643U ,2022-12-16

[4]

超高真空极低温四探针测量装置 [P].

王文杰 .

中国专利 :CN210775555U ,2020-06-16

[5]

用于芯片检测装置的芯片推压器 [P].

杨文桦 .

中国专利 :CN207164084U ,2018-03-30

[6]

用于电子芯片的检测装置 [P].

曾伍平 .

中国专利 :CN211206575U ,2020-08-07

[7]

超高真空极低温四探针测量装置及其方法 [P].

王文杰 .

中国专利 :CN110501526B ,2024-05-07

[8]

超高真空极低温四探针测量装置及其方法 [P].

王文杰 .

中国专利 :CN110501526A ,2019-11-26

[9]

用于测量钢筋的检测装置 [P].

陈毅 ;

黄梓 ;

黄贵勇 ;

老兆暖 ;

陈经权 ;

罗文枫 .

中国专利 :CN209342057U ,2019-09-03

[10]

用于测序芯片的厚度检测装置 [P].

郑宇强 ;

周洋 ;

熊波 ;

廖海云 .

中国专利 :CN221223737U ,2024-06-25

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