超高真空极低温四探针测量装置及其方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910841779.2
申请日
2019-09-06
公开(公告)号
CN110501526A
公开(公告)日
2019-11-26
发明(设计)人
王文杰
申请人
申请人地址
314000 浙江省嘉兴市南湖区亚太路906号(中科院三期)17号楼2楼203室
IPC主分类号
G01Q6000
IPC分类号
G01Q3002 G01Q3010 G01Q3016 G01Q7008
代理机构
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253
代理人
张抗震
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
超高真空极低温四探针测量装置及其方法 [P]. 
王文杰 .
中国专利 :CN110501526B ,2024-05-07
[2]
超高真空极低温四探针测量装置 [P]. 
王文杰 .
中国专利 :CN210775555U ,2020-06-16
[3]
四探针测量头装置及四探针测量仪 [P]. 
全首旭 ;
钟大龙 ;
李博研 ;
尚铁炜 ;
张建柱 ;
王子鑫 ;
魏垚 .
中国专利 :CN117554697A ,2024-02-13
[4]
多探针共成像的超高真空四探针扫描隧道显微镜 [P]. 
张朝晖 ;
王志刚 .
中国专利 :CN102445568B ,2012-05-09
[5]
用于极低温测量的芯片检测装置 [P]. 
张跃宗 .
中国专利 :CN211086516U ,2020-07-24
[6]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395519A ,2025-02-07
[7]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395519B ,2025-04-29
[8]
一种超高真空极低温纳米材料制备及表征设备 [P]. 
张宇 ;
马诚杰 ;
沈敏敏 ;
王城程 .
中国专利 :CN114813735B ,2022-07-29
[9]
一种低震动超高真空低温物性测量装置 [P]. 
陈剑豪 ;
曹世民 ;
蔡超逸 ;
何龙 .
中国专利 :CN107664678A ,2018-02-06
[10]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119414212A ,2025-02-11